Алпатов А В

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Исследование корреляционных свойств структуры поверхности пленок $nc$-Si/$a$-Si : H с различной долей кристаллической фазы
   
   Физика и техника полупроводников, 50:5 (2016),  600–606
2. Комплексный метод исследования корреляционных параметров самоорганизованных структур
   
   Физика и техника полупроводников, 50:1 (2016),  23–29
3. Исследование корреляционных параметров структуры поверхности неупорядоченных полупроводников с помощью методов двумерного DFA и средней взаимной информации
   
   Физика и техника полупроводников, 49:4 (2015),  467–471
4. Выявление корреляций поверхностного интерфейса пленок $a$-Si:H методом двумерного флуктуационного анализа
   
   Физика и техника полупроводников, 47:3 (2013),  340–347