|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Переходной процесс выключения 4$H$-SiC биполярного транзистора из режима глубокого насыщения
Физика и техника полупроводников, 51:9 (2017), 1243–1248
-
Вольт-амперные характеристики диодов Шоттки при больших плотностях тока в условиях инжекции неосновных носителей
Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017), 1125–1130
-
Анализ влияния неодномерных эффектов на отпирающий ток управления тиристорных структур на основе 4$H$-SiC
Физика и техника полупроводников, 51:2 (2017), 234–239
-
Изотермические вольт-амперные характеристики высоковольных 4$H$-SiC JBS-диодов Шоттки
Физика и техника полупроводников, 50:5 (2016), 668–673
-
Высоковольтный тиристор на основе карбида кремния с блокирующей базой $n$-типа
Физика и техника полупроводников, 50:3 (2016), 408–414
-
Нарушение нейтральности и возникновение $S$-образной вольт-амперной характеристики при двойной инжекции в легированных полупроводниках
Физика и техника полупроводников, 47:3 (2013), 302–309
-
Особенности стационарного распределения носителей заряда и тока удержания в SiC-фототиристоре
Физика и техника полупроводников, 47:1 (2013), 118–123
-
Перегрев SiC фототиристора в процессе включения и распространения включенного состояния
Физика и техника полупроводников, 46:9 (2012), 1224–1229
-
Генерация донорного центра в высоковольтных 4H-SiC $p$–$i$–$n$-диодах под действием прямого тока
Письма в ЖТФ, 37:19 (2011), 45–50
-
Особенности деградации высоковольтных 4H-SiC $p$–$i$–$n$-диодов под действием импульсов прямого тока
Письма в ЖТФ, 37:8 (2011), 7–12
© , 2026