|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Особенности формирования мезаструктуры методом электронно-лучевой литографии в полупроводниковых соединениях на основе GaAs
Письма в ЖТФ, 51:21 (2025), 42–44
-
Повышение эффективности лазерного возбуждения оптоэлектронного терагерцевого источника при помощи массива ближнепольных сапфировых микролинз
Письма в ЖТФ, 51:19 (2025), 46–48
-
Эффективная генерация ТГц излучения фотопроводящим источником с локализацией носителей заряда в высокоаспектных плазмонных электродах
Оптика и спектроскопия, 132:1 (2024), 105–110
-
Снижение шума фотопроводящей терагерцевой антенны-детектора на основе упругонапряженной сверхрешеточной InAlAs/InGaAs-гетероструктуры
Письма в ЖТФ, 50:8 (2024), 12–14
-
Генерация терагерцевого излучения множественными псевдоморфными квантовыми ямами InGaAs/GaAs с ориентацией (100), (110) и (111)А и фотопроводящими антеннами на их основе
Квантовая электроника, 54:1 (2024), 43–50
-
Оптико-терагерцевые преобразователи: современное состояние и новые возможности для мультиспектральной визуализации
УФН, 194:1 (2024), 2–22
-
Локализация энергии лазерного излучения в оптико-терагерцевом преобразователе ультракоротких ИК-импульсов при помощи профилированных сапфировых волокон
Письма в ЖТФ, 48:23 (2022), 11–13
-
Фотопроводящий ТГц детектор на основе новых функциональных слоев в многослойных гетероструктурах
Оптика и спектроскопия, 129:6 (2021), 741–746
-
Излучательная эффективность терагерцовых антенн с традиционной топологией и металлической метаповерхностью: сравнительный анализ
Оптика и спектроскопия, 128:7 (2020), 1012–1019
-
Плазмонные фотопроводящие антенны для систем терагерцовой импульсной спектроскопии и визуализации
Оптика и спектроскопия, 126:5 (2019), 663–669
-
Терагерцовый микроскоп на основе эффекта твердотельной иммерсии для визуализации биологических тканей
Оптика и спектроскопия, 126:5 (2019), 642–649
-
Электрические и тепловые свойства фотопроводящих антенн на основе In$_{x}$Ga$_{1-x}$As ($x>$ 0.3) с метаморфным буферным слоем для генерации терагерцового излучения
Физика и техника полупроводников, 51:9 (2017), 1267–1272
-
Особенности диагностики метаморфных наногетероструктур InAlAs/InGaAs/InAlAs методом высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии в режиме $\omega$-сканирования
Физика и техника полупроводников, 50:4 (2016), 567–573
-
Структурные и фотолюминесцентные свойства низкотемпературного GaAs, выращенного на подложках GaAs (100) и GaAs (111)A
Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 195–203
-
Электронный транспорт и оптические свойства структур с нанонитями из атомов олова на вицинальных подложках GaAs
Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 185–190
-
Фотолюминесценция гетероструктур с квантовой ямой In$_x$Ga$_{1-x}$As с высоким содержанием индия при разной мощности возбуждения
Физика и техника полупроводников, 49:9 (2015), 1254–1257
-
Фотолюминесцентные свойства модулированно-легированных структур In$_x$Al$_{1-x}$As/In$_y$Ga$_{1-y}$As/In$_x$Al$_{1-x}$As с напряженными нановставками InAs и GaAs в квантовой яме
Физика и техника полупроводников, 49:9 (2015), 1243–1253
-
Исследование оптических свойств GaAs, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах роста, с $\delta$-легированными слоями Si
Физика и техника полупроводников, 49:7 (2015), 932–935
-
Особенности фотолюминесценции HEMT-наногетероструктур с составной квантовой ямой InAlAs/InGaAs/InAs/InGaAs/InAlAs
Физика и техника полупроводников, 49:2 (2015), 241–248
-
Применение спектроскопии фотолюминесценции для исследования метаморфных наногетероструктур In$_{0.38}$Al$_{0.62}$As/In$_{0.38}$Ga$_{0.62}$As/In$_{0.38}$Al$_{0.62}$As
Физика и техника полупроводников, 48:7 (2014), 909–916
-
Фотолюминесцентные исследования метаморфных наногетероструктур In$_{0.7}$Al$_{0.3}$As/In$_{0.75}$Ga$_{0.25}$As/In$_{0.7}$Al$_{0.3}$As на подложках GaAs
Физика и техника полупроводников, 48:5 (2014), 658–666
-
MHEMT с предельной частотой усиления по мощности $f_{\mathrm{max}}$ = 0.63 ТГц на основе наногетероструктуры In$_{0.42}$Al$_{0.58}$As/In$_{0.42}$Ga$_{0.58}$As/In$_{0.42}$Al$_{0.58}$As/GaAs
Физика и техника полупроводников, 48:1 (2014), 73–76
© , 2026