RUS
ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ
Деев Пётр Михайлович
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
Исследование методом спектроскопии фотоотражения слоев LT-GaAs, выращенных на подложках Si и GaAs
Физика и техника полупроводников
,
52
:7 (2018),
708–711
©
МИАН
, 2026
