Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
О влиянии параметров топологии транзистора с каналом в форме плавника на деградацию, вызываемую горячими носителями
Физика и техника полупроводников, 52:13 (2018), 1631–1635
-
Анализ особенностей деградации, вызываемой горячими носителями, в транзисторах с каналом в форме плавника
Физика и техника полупроводников, 52:10 (2018), 1177–1182
-
Физические основы самосогласованного моделирования процессов генерации интерфейсных состояний и транспорта горячих носителей в транзисторах на базе структур металл–диэлектрик–кремний
Физика и техника полупроводников, 52:2 (2018), 254–259
-
Адаптация модели туннелирования в системе металл/CaF$_2$/Si(111) к использованию в симуляторах МДП-приборов
Физика и техника полупроводников, 49:2 (2015), 266–270
-
Общая процедура расчета электрических характеристик туннельных МДП-структур
Физика и техника полупроводников, 47:5 (2013), 675–683
© , 2026