Шарков Михаил Дмитриевич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Особенности доменной структуры многослойной пленки SnO$_2$/Ga$_2$O$_3$/GaN/Al$_2$O$_3$
   
   Письма в ЖТФ, 51:1 (2025),  33–36
2. Построение 2D-картин рентгеновской дифракции от модельных кристаллов-вискеров арсенида галлия
   
   Физика твердого тела, 65:1 (2023),  98–105
3. Треугольные кристаллы координационного полимера феназина: формирование, свойства
   
   ЖТФ, 92:6 (2022),  815–821
4. Изучение порошкообразных образцов LiFePO$_4$ дифракционными рентгеновскими методами с применением искусственных нейронных сетей
   
   Письма в ЖТФ, 48:14 (2022),  14–17
5. Изучение сверхструктуры в сильно легированном пористом фосфиде индия рентгеновскими методами
   
   Физика и техника полупроводников, 52:1 (2018),  89–92
6. Рентгеновские исследования формирования доменов в горных породах под взрывным воздействием
   
   Физика твердого тела, 58:11 (2016),  2248–2251
7. Исследование атомной, кристаллической, доменной структуры материалов на основе анализа дифракционных и абсорбционных рентгеновских данных (Обзор)
   
   ЖТФ, 85:11 (2015),  1–29
8. Исследование микрокристаллического кремния методом малоуглового рассеяния рентгеновских лучей
   
   Физика и техника полупроводников, 49:8 (2015),  1078–1082
9. Характеризация структуры ультрадисперсного алмаза с помощью методов рентгеновской дифрактометрии и малоуглового рассеяния рентгеновских лучей
   
   Физика твердого тела, 56:11 (2014),  2265–2268
10. Доменная структура материала полупроводниковых лазеров на основе GaN/SiC
    
    Физика твердого тела, 55:10 (2013),  2035–2038
11. Новый метод обработки данных спектроскопии EXAFS и его применение
    
    ЖТФ, 81:9 (2011),  134–139
12. Инновации в спектрометрии электронной эмиссии под воздействием рентгеновского излучения (XIEES)
    
    Физика и техника полупроводников, 44:6 (2010),  753–758