|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Численное моделирование вольт-амперных характеристик двуслойной резистивной памяти на основе нестехиометрических оксидов металлов
Физика и техника полупроводников, 53:9 (2019), 1275–1278
-
Влияние электрического поля на соотношение параметров Рашба и Дрессельхауза в гетероструктурах А$^{\mathrm{III}}$B$^{\mathrm{V}}$
Физика и техника полупроводников, 51:11 (2017), 1462–1467
-
Влияние пространственного расположения $\delta$-слоя Si на оптоэлектронные свойства гетеронаноструктур с квантовой ямой InGaAs/GaAs
Физика и техника полупроводников, 49:2 (2015), 145–148
-
Влияние технологических параметров роста на характеристики двойных туннельно-связанных ям InGaAs/GaAs
Физика и техника полупроводников, 49:1 (2015), 58–62
-
Моделирование эффективного профиля концентрации в гетероструктурах InGaAs/GaAs с $\delta$-легированными слоями
Физика и техника полупроводников, 49:1 (2015), 53–57
-
Адмиттанс кольцевых диодных структур с квантовыми ямами InGaAs/InAlAs/InP
Физика и техника полупроводников, 46:12 (2012), 1561–1565
-
Туннельно-связанные квантовые ямы InGaAs/GaAs: структура, состав и энергетический спектр
Физика и техника полупроводников, 46:12 (2012), 1510–1514
© , 2026