Толмачев Владимир Андреевич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Анализ оптических свойств массива полусферических наночастиц Ag на поверхности SiO$_2$/c-Si методом спектральной эллипсометрии
   
   Оптика и спектроскопия, 132:7 (2024),  779–785
2. Исследование диэлектрических функций слоя наночастиц Ag на кремнии с помощью спектроэллипсометрии и спектрофотометрии
   
   Оптика и спектроскопия, 130:2 (2022),  254–259
3. Исследование оптических и плазмонных особенностей в спектрах отражения слоев наночастиц серебра, осажденных из раствора AgNO$_{3}$ на поверхности кремния
   
   Оптика и спектроскопия, 128:12 (2020),  1868–1873
4. Эллипсометрическое исследование тонкопленочных структур аморфного гидрогенизированного углерода и наночастиц золота
   
   Оптика и спектроскопия, 127:5 (2019),  846–850
5. Оптические и структурные свойства наноструктур Ag и $c$-Si, формирующихся в процессе металл-стимулированного химического травления кремния
   
   Физика и техника полупроводников, 53:4 (2019),  576–582
6. Fabrication of silicon nanostructures for application in photonics
   
   Физика и техника полупроводников, 52:5 (2018),  518
7. Поверхностные наноструктуры, формирующиеся на ранних стадиях металл-стимулированного химического травления кремния. Оптические свойства наночастиц серебра
   
   Физика и техника полупроводников, 52:3 (2018),  333–336
8. Трансформация структуры анодов из макропористого кремния в результате процессов циклического литирования
   
   Физика и техника полупроводников, 47:9 (2013),  1288–1294
9. Исследование состава, структуры и оптических свойств пленок $a$-Si$_{1-x}$C$_x$ : H$\langle$Er$\rangle$, легированных эрбием из комплексного соединения Er(pd)$_3$
   
   Физика и техника полупроводников, 47:3 (2013),  353–359
10. Аэрозольное нанесение детонационных наноалмазов в качестве зародышей роста нанокристаллических алмазных пленок и изолированных частиц
    
    ЖТФ, 81:5 (2011),  132–138
11. Технология получения гетеропереходов в решетке двумерного фотонного кристалла на основе макропористого кремния
    
    Физика и техника полупроводников, 45:8 (2011),  1136–1143