Спесивцев Евгений Васильевич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Оптические свойства пиролитического нитрида кремния SiN$_x$, обогащённого кремнием
   
   Оптика и спектроскопия, 130:11 (2022),  1718–1722
2. Оптические свойства сегнетоэлектрических пленок Hf$_x$Zr$_y$O$_2$ и La : Hf$_x$Zr$_y$O$_2$ по данным эллипсометрии
   
   Оптика и спектроскопия, 130:3 (2022),  365–368
3. Структурные изменения в пленках кремний-на-изоляторе нанометровой толщины при высокотемпературном отжиге
   
   Физика и техника полупроводников, 56:3 (2022),  320–327
4. Оптические и электрохромные свойства тонких пленок амбиполяных полиимидов с пендантными группами на основе производных тоиксантенона
   
   Оптика и спектроскопия, 129:11 (2021),  1393–1399
5. Оптические свойства тонких пленок SiO$_{x}$ $(x<2)$, полученных обработкой термического диоксида кремния в водородной плазме
   
   Оптика и спектроскопия, 128:10 (2020),  1467–1472
6. Использование спектральной эллипсометрии и спектроскопии комбинационного рассеяния света в скрининговой диагностике колоректального рака
   
   Оптика и спектроскопия, 127:1 (2019),  170–176
7. Анодное окисление слоев кремний-на-изоляторе, созданных методом водородного переноса
   
   Физика и техника полупроводников, 53:2 (2019),  253–257
8. Оптические свойства тонких пленок фталоцианинов цинка по данным спектральной эллипсометрии
   
   Оптика и спектроскопия, 125:6 (2018),  825–829
9. Бесконтактный перенос изображения через газовую фазу в термически активированном процессе
   
   Письма в ЖТФ, 40:18 (2014),  8–15
10. Анодное окисление нанометровых слоев Si в структурах кремний-на-изоляторе
    
    Физика и техника полупроводников, 45:8 (2011),  1121–1125
11. Контроль состава гетероэпитаксиальных слоев Cd$_{1-z}$Zn$_z$Te методом спектральной эллипсометрии
    
    Физика и техника полупроводников, 44:1 (2010),  62–68