|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Влияние внешних параметров на процесс переключения при задержанной ионизации в кремниевой $p^+$–$n$–$n^+$-структуре
Физика и техника полупроводников, 58:6 (2024), 326–332
-
Численное и экспериментальное исследования оптимизированного $p$-SOS-диода
ЖТФ, 89:3 (2019), 409–415
-
Мощный диодный наносекундный размыкатель тока на основе $p$-кремния ($p$-SOS)
ЖТФ, 86:3 (2016), 106–109
-
Формирование профилей распределения мелких доноров при протонном облучении кремния
Письма в ЖТФ, 40:23 (2014), 67–73
-
Интенсивность излучения в видимой и инфракрасной областях спектра в структурах на основе кремния, сформированных прямым сращиванием с одновременным легированием эрбием (Er) и европием (Eu)
Физика и техника полупроводников, 47:9 (2013), 1204–1209
-
Исследование процесса обратного восстановления Si/Si$_{1-x}$Ge$_x$ гетеродиодов, изготовленных прямым сращиванием
Письма в ЖТФ, 37:13 (2011), 83–89
-
Структурные и электрические свойства подложек SiGe-на-изоляторе, сформированных методом прямого сращивания
Физика и техника полупроводников, 44:8 (2010), 1135–1139
© , 2026