|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Изучение кинетики сближения ступеней поверхности Si(100)
Физика твердого тела, 65:2 (2023), 173–179
-
Cинтез эпитаксиальных структур, содержащих двумерные слои Si, встроенные в диэлектрическую матрицу CaF$_2$
Письма в ЖЭТФ, 116:9 (2022), 608–613
-
Структурные и оптические свойства двумерных слоев Si и Ge, полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках CаF$_2$/Si(111)
Физика и техника полупроводников, 56:8 (2022), 748–752
-
Образование дислокационных пар в гетероструктуре Ge/GeSi/Si(001)
Физика твердого тела, 61:2 (2019), 284–287
-
Формирование ступенчатой поверхности Si(100) и ее влияние на рост островков Ge
Физика и техника полупроводников, 52:3 (2018), 409–413
-
Достоверность выявления пронизывающих дислокаций в эпитаксиальных пленках с помощью структурно-чувствительного травления
Письма в ЖТФ, 44:20 (2018), 30–36
-
Роль краевых дислокаций в пластической релаксации гетероструктур GeSi/Si(001): зависимость механизмов введения от толщины пленки
Физика твердого тела, 57:4 (2015), 746–752
-
Особенности пластической релаксации метастабильного слоя Ge$_x$Si$_{1-x}$, захороненного между подложкой Si и релаксированным слоем Ge
Физика твердого тела, 56:2 (2014), 247–253
-
Напряженные пленки Ge в гетероструктуре Ge/InGaAs/GaAs: образование краевых дислокаций несоответствия на границе Ge/InGaAs
Физика твердого тела, 53:10 (2011), 1903–1909
-
Краевые дислокации несоответствия в гетероструктурах Ge$_x$Si$_{1-x}$/Si(001) ($x\sim$ 1): роль промежуточного буферного слоя Ge$_y$Si$_{1-y}$ $(y<x)$ в их образовании
Физика твердого тела, 53:9 (2011), 1699–1705
-
Гетероэпитаксия пленок Ge$_x$Si$_{1-x}$ ($x\sim$ 0.4–0.5) на подложках Si(001), отклоненных к (111): формирование только коротких краевых дислокаций несоответствия в направлении отклонения
Физика твердого тела, 52:1 (2010), 32–36
© , 2026