|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Фотоэлектрические преобразователи лазерного излучения ($\lambda$ = 1064 нм) на основе GaInAsP/InP
Физика и техника полупроводников, 52:13 (2018), 1641–1646
-
Модификация фотоэлектрических преобразователей лазерного излучения ($\lambda$ = 808 нм), получaемых методом жидкофазной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 52:3 (2018), 385–389
-
Фотоэлектрические преобразователи лазерного излучения на основе гетероструктур InP(GaAs)/InP, полученные методом жидкофазной эпитаксии
Письма в ЖТФ, 44:18 (2018), 31–38
-
Формирование $p$-эмиттера с участием сурфактантов в GaAs фотоэлектрических преобразователях
Физика и техника полупроводников, 51:5 (2017), 699–703
-
Фотоэлектрический приемник лазерного излучения ($\lambda$ = 809 нм) на основе GаAs
Физика и техника полупроводников, 51:5 (2017), 676–679
-
Оптимизация структурных и ростовых параметров метаморфных InGaAs-фотопреобразователей, полученных методом МОС-гидридной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 51:1 (2017), 94–100
-
Фотоэлектрические преобразователи лазерного излучения ($\lambda$ = 1550 нм) на основе GaSb: метод получения и характеристики
Физика и техника полупроводников, 50:10 (2016), 1358–1362
-
Фотоэлектрический преобразователь лазерного излучения на основе гетероструктуры AlGaAs/GaAs
Физика и техника полупроводников, 50:9 (2016), 1242–1246
-
Растекание тока в солнечных элементах: двухпараметрическая трубковая модель
Физика и техника полупроводников, 50:7 (2016), 987–992
-
Гетероструктуры метаморфных GaInAs-фотопреобразователей, полученные методом МОС-гидридной эпитаксии на подложках GaAs
Физика и техника полупроводников, 50:4 (2016), 525–530
-
Фотоэлектрический преобразователь лазерного излучения для длин волн $\lambda\approx$ 1550 нм на основе GaSb
Физика и техника полупроводников, 49:8 (2015), 1104–1107
-
Оценка потенциальной эффективности многопереходного солнечного элемента при предельном балансе фотогенерированных токов
Физика и техника полупроводников, 49:5 (2015), 682–687
-
Температурная стабильность контактных систем фотоэлектрических преобразователей на основе GaSb
Физика и техника полупроводников, 48:9 (2014), 1280–1286
-
Разностный способ получения темновой вольт-амперной характеристики и ее виды для остаточной (негенерирующей) части многопереходного солнечного элемента
Физика и техника полупроводников, 48:5 (2014), 671–676
-
Концентраторные фотоэлектрические модули со спектральным расщеплением света с солнечными элементами на основе структур AlGaAs/GaAs/GaSb и GaInP/InGaAs(P)
ЖТФ, 83:7 (2013), 106–110
-
Методика исследования световой деградации тандемных фотопреобразователей $\alpha$-Si : H/$\mu c$-Si : H при повышенной освещенности
Физика и техника полупроводников, 47:10 (2013), 1385–1390
-
Исследование световой деградации тандемных $\alpha$-Si : H/$\mu c$-Si : H солнечных фотопреобразователей
Физика и техника полупроводников, 47:5 (2013), 667–674
-
Высокоэффективные фотоэлементы на основе GaSb
Физика и техника полупроводников, 47:2 (2013), 273–279
-
Фотоэлектрическое определение последовательного сопротивления многопереходных солнечных элементов
Физика и техника полупроводников, 46:8 (2012), 1074–1081
-
Снижение омических потерь и повышение мощности фотоэлектрических преобразователей на основе антимонида галлия
Физика и техника полупроводников, 45:9 (2011), 1266–1273
-
Высокоэффективный ($\eta$ = 39.6%, AM 1.5D) каскад фотопреобразователей в системе со спектральным расщеплением солнечного излучения
Физика и техника полупроводников, 45:6 (2011), 810–815
-
Германиевые субэлементы для многопереходных фотоэлектрических преобразователей GaInP/GaInAs/Ge
Физика и техника полупроводников, 44:11 (2010), 1568–1576
-
Исследование диффузионных длин неосновных носителей заряда в фотоактивных слоях многопереходных солнечных элементов
Физика и техника полупроводников, 44:8 (2010), 1118–1123
-
Термофотоэлектрические генераторы на основе антимонида галлия
Физика и техника полупроводников, 44:2 (2010), 270–277
-
Высокоэффективные фотоэлементы на основе твердых растворов In$_{0.53}$Ga$_{0.47}$As с изовалентным легированием
Физика и техника полупроводников, 44:2 (2010), 240–245
© , 2026