|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Измерение уровня легирования нитевидных нанокристаллов с помощью спектроскопии комбинационного рассеяния
Физика твердого тела, 67:3 (2025), 460–463
-
Трибоэлектрическая генерация при трении проводящего зонда о поверхность GaAs
Физика твердого тела, 65:12 (2023), 2144–2147
-
Трибоэлектрическая генерация при трении высоколегированных алмазных зондов о поверхность $p$-Si
Физика и техника полупроводников, 57:9 (2023), 725–730
-
Обнаружение клиновидных нанокластеров золота на поверхности GaAs и их изучение с помощью поляризационной спектроскопии плазмонов
Физика и техника полупроводников, 57:6 (2023), 484–490
-
Распределение упругих деформаций в конических нанопроводах при боковых изгибах
Физика и техника полупроводников, 56:7 (2022), 634–636
-
Влияние химической пассивации поверхности GaAs(001) на анизотропию и ориентацию образующихся на ней нанокластеров золота и их плазмонов
Физика и техника полупроводников, 56:7 (2022), 613–617
-
Нелинейное просветление InAs нитевидных нанокристаллов в видимом диапазоне
Оптика и спектроскопия, 128:1 (2020), 128–133
-
Терагерцевый ближнепольный отклик в лентах графена
Письма в ЖТФ, 46:15 (2020), 29–32
-
Светодиоды на основе асимметричной двойной гетероструктуры InAs/InAsSb/InAsSbP для детектирования CO$_{2}$ ($\lambda$ = 4.3 мкм) и CO ($\lambda$ = 4.7 мкм)
Физика и техника полупроводников, 53:6 (2019), 832–838
-
Электрические свойства GaAs нитевидных нанокристаллов, выращенных на гибридных подложках графен/SiC
Физика и техника полупроводников, 52:12 (2018), 1507–1511
-
Синтез методом молекулярно-пучковой эпитаксии и структурные свойства GaP- и InP-нитевидных нанокристаллов на SiC-подложке с пленкой графена
Физика и техника полупроводников, 52:11 (2018), 1317–1320
-
GaAs wurtzite nanowires for hybrid piezoelectric solar cells
Физика и техника полупроводников, 52:5 (2018), 511
-
Локальное анодное окисление слоев графена на SiC
Письма в ЖТФ, 44:9 (2018), 34–40
-
Исследование кристаллической и электронной структуры графеновых пленок, выращенных на 6$H$-SiC (0001)
Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017), 1116–1124
-
Создание устойчивых зарядовых областей в массиве Ge-нанокристаллитов внутри SiO$_2$ с помощью электростатической силовой микроскопии
ЖТФ, 85:5 (2015), 50–56
-
Картирование интенсивности излучения лазерного диода методом атомно-силовой микроскопии
Письма в ЖТФ, 41:18 (2015), 8–15
-
Поведение локально инжектированных зарядов в нанотонких слоях high-k диэлектрика SmScO$_3$
ЖТФ, 84:10 (2014), 122–126
-
Двухцветная люминесценция в одиночной гетероструктуре II типа InAsSbP/InAs
Физика и техника полупроводников, 47:1 (2013), 30–35
-
Поведение локально инжектированных зарядов в нанотонких диэлектрических слоях LaScO$_3$ на Si подложке
Письма в ЖТФ, 39:9 (2013), 47–55
-
Определение модуля Юнга нанопроводов GaAs, наклонно растущих на подложке
Физика и техника полупроводников, 46:5 (2012), 659–664
-
Фотодиоды с расширенным спектральным диапазоном 1.5–4.8 $\mu$m на основе гетероструктур InAs/InAs$_{0.88}$Sb$_{0.12}$/InAsSbP, работающие при комнатной температуре
Письма в ЖТФ, 37:19 (2011), 95–103
-
Импульсные полупроводниковые лазеры с повышенной оптической прочностью выходных зеркал резонатора
Физика и техника полупроводников, 44:6 (2010), 817–821
© , 2026