RUS  ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ

Марченко Дмитрий Евгеньевич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

  1. Composition and band structure of the native oxide nanolayer on the ion beam treated surface of the GaAs wafer

    Физика и техника полупроводников, 52:5 (2018),  506
  2. Электронная структура наноинтерфейса Cs/$n$-GaN(0001)

    Письма в ЖТФ, 44:6 (2018),  50–58
  3. XPS-исследования межатомных взаимодействий в поверхностном слое многослойных наноструктур (Co$_{45}$Fe$_{45}$Zr$_{10}$/$a$-Si)$_{40}$ и (Co$_{45}$Fe$_{45}$Zr$_{10}$/SiO$_2$)$_{32}$

    Физика твердого тела, 56:11 (2014),  2219–2230
  4. XANES-исследования межатомных взаимодействий в многослойных наноструктурах (Co$_{45}$Fe$_{45}$Zr$_{10}$/$a$-Si)$_{40}$ и (Co$_{45}$Fe$_{45}$Zr$_{10}$/SiO$_2$)$_{32}$

    Физика твердого тела, 55:6 (2013),  1202–1210
  5. Роль ковалентного взаимодействия в формировании электронной структуры графена на поверхности Ni(111) с интеркалированными слоями Au и Cu

    Физика твердого тела, 53:12 (2011),  2409–2413
  6. Формирование сверхтонких магнитных пленок железа на вицинальной поверхности кремния

    Физика твердого тела, 53:3 (2011),  564–568
  7. Рентгеноспектроскопическое исследование тонких пленок HfO$_2$, синтезированных на Si (100) методами ALD и MOCVD

    ЖТФ, 80:7 (2010),  131–136
  8. Исследование стабильности структуры пористого кремния, полученного травлением Si(100) в водном растворе фторида аммония, спектроскопическими методами

    Письма в ЖТФ, 36:3 (2010),  53–59


© МИАН, 2026