|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Химическая кинетика процесса нитридизации поверхности Si(111) при температурах ниже структурного фазового перехода (7$\times$7)$\to$(1$\times$1)
Физика и техника полупроводников, 58:7 (2024), 349–357
-
Определение толщины зародышевого слоя AlN, сформированного на поверхности Al$_2$O$_3$(0001) в процессе нитридизации, методами РФЭС и ИК-спектроскопии
Физика и техника полупроводников, 56:8 (2022), 734–741
-
Формирование нанокристаллов GaN на поверхности графеноподобных $g$-AlN и $g$-Si$_{3}$N$_{3}$
Физика твердого тела, 61:12 (2019), 2327–2332
-
Нелегированный высокоомный буферный слой GaN для HEMT AlGaN/GaN
Письма в ЖТФ, 45:15 (2019), 21–24
-
Влияние степени нитридизации сапфира и обогащения алюминием зародышевого слоя на структурные свойства слоев AlN
Физика и техника полупроводников, 52:6 (2018), 643–650
-
Нитридизация нереконструированной и реконструированной $(\sqrt{31}\times\sqrt{31})R\pm9^\circ$ поверхности (0001) сапфира в потоке аммиака
Физика и техника полупроводников, 49:7 (2015), 925–931
© , 2026