Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Raman studies of graphene films grown on 4$H$-SiC subjected to deposition of Ni
Физика и техника полупроводников, 54:12 (2020), 1388
-
Воздействие протонного облучения с энергией 8 МэВ на гетероэпитаксиальные слои $n$-3$C$-SiC
Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017), 1088–1090
-
Радиационная стойкость диодов Шоттки на основе $n$-GaN
Физика и техника полупроводников, 49:10 (2015), 1386–1388
-
Erratum to: “Dynamics of induced base layer formation in tunnel MIS-transistors under strong electric fields”
Письма в ЖТФ, 41:8 (2015), 409
-
Динамика формирования инверсного базового слоя в туннельных МДП-транзисторах в сильных электрических полях
Письма в ЖТФ, 41:3 (2015), 103–110
-
Компенсация проводимости $p$-6H-SiC при облучении протонами с энергией 8 МэВ
Физика и техника полупроводников, 45:9 (2011), 1188–1190
© , 2026