Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Образование множественных сбоев в изделиях электроники под действием протонов и нейтронов
ЖТФ, 90:4 (2020), 678–685
-
Возникновение множественных сбоев под действием протонов в статических ОЗУ с технологической нормой 90 nm
Письма в ЖТФ, 45:1 (2019), 20–22
-
Образование кластеров спайков в CMOS-матрицах, облученных протонами и нейтронами
Письма в ЖТФ, 44:21 (2018), 48–54
-
Воздействие быстрых протонов и нейтронов на приборы с зарядовой связью
Письма в ЖТФ, 39:17 (2013), 35–43
-
Экспериментальное исследование воздействия протонов на приборы с зарядовой связью
Письма в ЖТФ, 36:13 (2010), 54–60
© , 2026