|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Радиационная стойкость датчиков МНПВО на основе двойных гетероструктур $p$-InAsSbP/$n$-InAs, облученных гамма-квантами
ЖТФ, 96:1 (2026), 112–121
-
Исследование предельных энергетических возможностей мощных ультрафиолетовых (370 nm) матричных излучателей: токовый и температурный факторы
Оптика и спектроскопия, 133:11 (2025), 1172–1175
-
Снижение внешней квантовой эффективности ультрафиолетовых светодиодов, вызванное перелегированием барьеров кремнием
Физика и техника полупроводников, 59:7 (2025), 397–401
-
Биосенсоры на основе графена для детектирования маркеров нейродегенеративной деменции
Письма в ЖТФ, 51:3 (2025), 13–16
-
Исследование рельефа напряжений и распределения деформаций в пленках графена биосенсоров вирусных инфекций
Физика твердого тела, 65:12 (2023), 2216–2219
-
Участие дефектов, локализованных на гетерограницах, и протяженных дефектов в деградации светоизлучающих приборов на основе нитридов
Оптика и спектроскопия, 131:11 (2023), 1499–1501
-
Изменение адсорбционных свойств графена в процессе получения биосенсоров вирусных инфекций
Физика и техника полупроводников, 56:12 (2022), 1137–1143
-
Температурное падение эффективности мощных синих InGaN/GaN-светодиодов
Письма в ЖТФ, 46:24 (2020), 45–48
-
Влияние протонного облучения (15 МэВ) на низкочастотный шум мощных SiC MOSFETs
Физика и техника полупроводников, 53:12 (2019), 1604–1608
-
Влияние облучения электронами с энергией 0.9 МэВ на вольт-амперные характеристики и низкочастотные шумы 4$H$-SiC pin-диодов
Физика и техника полупроводников, 53:4 (2019), 555–561
-
Многообразие свойств приборных структур на основе нитридов элементов III группы, связанное с модификацией фрактально-перколяционной системы
Физика и техника полупроводников, 52:7 (2018), 804–811
-
Фрактальная природа светоизлучающих структур на основе III–N наноматериалов и связанные с ней явления
Физика и техника полупроводников, 50:9 (2016), 1195–1201
-
Исследование деградации внешней квантовой эффективности ультрафиолетовых светодиодов на основе гетероструктур AlGaN/GaN, выращенных методом хлоридно-гидридной эпитаксии
Письма в ЖТФ, 40:13 (2014), 73–80
-
Низкочастотный шум в исходных и деградировавших синих InGaAs/GaN-светодиодах
Физика и техника полупроводников, 46:2 (2012), 219–223
-
Влияние уровня легирования кремнием и характера наноструктурной организации на падение с током внешней квантовой эффективности InGaN/GaN-светодиодов
Физика и техника полупроводников, 45:3 (2011), 425–431
© , 2026