|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Влияние температуры облучения на скорость удаления носителей в GaN
Физика и техника полупроводников, 59:4 (2025), 227–229
-
Температурная зависимость скорости удаления носителей в 4H-SiC
Физика и техника полупроводников, 58:9 (2024), 482–484
-
Отжиг высоковольтных 4H-SiC диодов Шоттки, облученных электронами при высокой температуре
Физика и техника полупроводников, 56:4 (2022), 441–445
-
Влияние температуры протонного облучения на характеристики мощных высоковольтных карбид-кремниевых диодов Шоттки
Письма в ЖТФ, 46:6 (2020), 35–37
-
Гальванические и емкостные эффекты при компенсации проводимости $n$-SiC радиационными дефектами
Физика и техника полупроводников, 52:12 (2018), 1532–1534
-
Влияние энергии бомбардирующих электронов на проводимость эпитаксиальных слоев $n$-4$H$-SiC (CVD)
Физика и техника полупроводников, 51:3 (2017), 311–316
-
Исследование воздействия электронного и протонного облучения на приборные структуры на основе 4$H$-SiC
Письма в ЖТФ, 43:22 (2017), 63–67
© , 2026