|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Исследование предельных энергетических возможностей мощных ультрафиолетовых (370 nm) матричных излучателей: токовый и температурный факторы
Оптика и спектроскопия, 133:11 (2025), 1172–1175
-
Фотолюминесценция квантовых точек PbS в матрице неорганического стекла при возбуждении светодиодами: спектры и квантовый выход
Оптика и спектроскопия, 133:10 (2025), 1068–1070
-
Снижение внешней квантовой эффективности ультрафиолетовых светодиодов, вызванное перелегированием барьеров кремнием
Физика и техника полупроводников, 59:7 (2025), 397–401
-
Оценка изменения функционального состояния человека с помощью методики критической частоты слияния мельканий: особенности светового воздействия и видов нагрузки
Письма в ЖТФ, 51:18 (2025), 13–15
-
Ближнее поле излучения и эффект неоднородности распределения плотности тока в AlInGaN микросветодиодах
Оптика и спектроскопия, 132:12 (2024), 1236–1239
-
Исследование влияния тестовых и игровых интеллектуальных нагрузок на функциональное состояние человека
Письма в ЖТФ, 50:23 (2024), 62–64
-
Тепловое сопротивление светодиодов на основе узкозонного твердого раствора InAsSb
Оптика и спектроскопия, 131:11 (2023), 1502–1504
-
К вопросу о механизмах разогрева светодиодов на основе $p$-InAsSbP/$n$-InAs(Sb)
Физика и техника полупроводников, 57:1 (2023), 42–52
-
Теплопроводность гибридных подложек SiC/Si для роста светодиодных гетероструктур
Письма в ЖТФ, 49:14 (2023), 19–21
-
Электротермооптические характеристики и предельные энергетические возможности мощных AlGaN-светодиодов глубокого ультрафиолетового диапазона ($\lambda\approx$ 270 nm)
Письма в ЖТФ, 49:9 (2023), 17–20
-
Предельные энергетические возможности мощных AlInGaN-светодиодов
Письма в ЖТФ, 48:13 (2022), 33–36
-
Особенности работы мощных AlInGaN-светодиодов при больших импульсных токах
Письма в ЖТФ, 47:16 (2021), 32–35
-
Температурное падение эффективности мощных синих InGaN/GaN-светодиодов
Письма в ЖТФ, 46:24 (2020), 45–48
-
Многообразие свойств приборных структур на основе нитридов элементов III группы, связанное с модификацией фрактально-перколяционной системы
Физика и техника полупроводников, 52:7 (2018), 804–811
-
Пространственное перераспределение излучения во флип-чип фотодиодах на основе двойных гетероструктур InAsSbP/InAs
Физика и техника полупроводников, 51:2 (2017), 269–275
-
Фрактальная природа светоизлучающих структур на основе III–N наноматериалов и связанные с ней явления
Физика и техника полупроводников, 50:9 (2016), 1195–1201
-
Особенности взаимодействия протонов с транзисторными структурами с двумерным AlGaN/GaN-каналом
Письма в ЖТФ, 42:21 (2016), 39–46
-
Взаимосвязь надежности AlGaN/GaN транзисторов с характером организации наноматериала
Письма в ЖТФ, 42:13 (2016), 80–86
-
Мощные светодиодные кристаллы AlGaInN с двухуровневой металлизацией
Физика и техника полупроводников, 48:9 (2014), 1287–1293
-
Исследование деградации внешней квантовой эффективности ультрафиолетовых светодиодов на основе гетероструктур AlGaN/GaN, выращенных методом хлоридно-гидридной эпитаксии
Письма в ЖТФ, 40:13 (2014), 73–80
-
Сравнение свойств светодиодных кристаллов AlGaInN вертикальной и флип-чип конструкции с использованием кремния в качестве платы-носителя
Физика и техника полупроводников, 47:3 (2013), 386–391
-
Поверхностно облучаемые фотодиоды на основе InAsSb (длинноволновая граница $\lambda_{0.1}$ = 4.5 мкм), работающие при температурах 25–80$^\circ$C
Физика и техника полупроводников, 46:5 (2012), 708–713
-
Низкочастотный шум в исходных и деградировавших синих InGaAs/GaN-светодиодах
Физика и техника полупроводников, 46:2 (2012), 219–223
-
Влияние уровня легирования кремнием и характера наноструктурной организации на падение с током внешней квантовой эффективности InGaN/GaN-светодиодов
Физика и техника полупроводников, 45:3 (2011), 425–431
-
Исследование тепловых процессов в мощных InGaN/GaN флип-чип светодиодах с использованием инфракрасной тепловизионной микроскопии
Физика и техника полупроводников, 44:3 (2010), 390–396
-
Высокоэффективные InGaN/GaN/AlGaN светодиоды с короткопериодной InGaN/GaN сверхрешеткой для диапазона 530–560 nm
Письма в ЖТФ, 36:22 (2010), 89–95
© , 2026