|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Структурное состояние InSb в композитном материале InSb/опал по данным просвечивающей электронной микроскопии
Физика и техника полупроводников, 58:2 (2024), 93–95
-
Дислокационная структура темплейтов AlN/SiC, выращенных методом сублимации
Физика и техника полупроводников, 57:8 (2023), 648–651
-
Влияние морфологии буферного слоя AlN на структурное качество полуполярного слоя GaN, выращенного на подложке Si(001), по данным просвечивающей электронной микроскопии
Письма в ЖТФ, 48:5 (2022), 51–54
-
Структурная характеризация короткопериодной сверхрешетки на основе гетероструктуры CdF$_{2}$/CaF$_{2}$/Si(111) методами просвечивающей электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии
Письма в ЖТФ, 47:15 (2021), 3–6
-
Исследование структурных особенностей дентина методами микротомографии и просвечивающей электронной микроскопии
ЖТФ, 90:9 (2020), 1449–1461
-
ПЭМ-исследование многослойных буферных структур AlN–AlGaN–GaN на кремниевых подложках
Письма в ЖТФ, 46:19 (2020), 50–54
-
Повышение эффективности фильтрации прорастающих дислокаций в темплейтах AlN/$c$-Al$_{2}$O$_{3}$ с фасетированной морфологией поверхности во время их роста методом молекулярно-пучковой эпитаксии
Письма в ЖТФ, 46:11 (2020), 26–30
-
Дислокационные реакции в полуполярном слое GaN, выращенном на вицинальной подложке Si(001) с использованием буферных слоев AlN и 3$C$-SiC
Физика твердого тела, 61:12 (2019), 2317–2321
-
Электрические и магнитные свойства нанонитей Pb и In в асбесте в области сверхпроводящего перехода
Физика твердого тела, 60:10 (2018), 1893–1899
-
Асимметрия дефектной структуры полуполярного GaN, выращенного на Si(001)
Письма в ЖТФ, 44:20 (2018), 53–61
-
О магнетизме кластеров никеля в нанопористом углероде
Физика твердого тела, 59:10 (2017), 2056–2062
-
Проявление размерных эффектов в электрических и магнитных свойствах квазиодномерных нитей олова в асбесте
Физика твердого тела, 58:3 (2016), 443–450
-
Оптические свойства наночастиц металлов в каналах хризотила
Письма в ЖТФ, 42:12 (2016), 96–102
-
Электронно-микроскопическое исследование нанокомпозита Sn–хризотиловый асбест
Письма в ЖТФ, 40:7 (2014), 42–48
-
Последовательная структурная характеризация слоев в системе GaN/AlN/SiC/Si(111) методом рентгеновской дифрактометрии после каждой стадии их образования
Письма в ЖТФ, 39:22 (2013), 25–32
-
Низкотемпературные свойства нанокомпозита пористый кремний–индий
Письма в ЖТФ, 38:17 (2012), 24–30
-
Структурная характеризация эпитаксиальных слоев GaN на кремнии: влияние буферных слоев
Письма в ЖТФ, 37:7 (2011), 72–79
-
Особенности вольт-амперных характеристик и температурные зависимости электропроводности слоев пористого кремния
Письма в ЖТФ, 36:24 (2010), 61–68
© , 2026