|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Анализ вольт-фарадных характеристик МДП-структур с ALD Al$_2$O$_3$ на $n$- и $p$-CdHgTe, стабилизированном сверхтонким собственным оксидом
Физика и техника полупроводников, 56:9 (2022), 915–921
-
Определение концентрации донорной примеси в тонких слоях $i$-InGaAs
Письма в ЖТФ, 48:21 (2022), 40–42
-
Влияние фтора на плотность состояний на границе раздела анодный оксидный слой/In$_{0.53}$Ga$_{0.47}$As
Письма в ЖТФ, 47:10 (2021), 11–14
-
Исследование плотности интерфейсных состояний на границах раздела диэлектрик/In$_{0.52}$Al$_{0.48}$As
Письма в ЖТФ, 46:10 (2020), 10–13
-
Матричные фотоприемные устройства на основе слоев InSb, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии
ЖТФ, 87:6 (2017), 900–904
-
Гетероструктуры CdHgTe для нового поколения ИК фотоприемников, работающих при повышенных температурах
Физика и техника полупроводников, 50:12 (2016), 1652–1656
-
Влияние продольных структур на теплопередачу при гиперзвуковом обтекании угла сжатия
Прикл. мех. техн. физ., 50:4 (2009), 112–120
© , 2026