|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Резистивное переключение мемристоров на основе эпитаксиальных гетероструктур $p$-Si/$p$-Ge/$n^+$-Si(001) с Ru- и Ag-электродами
Письма в ЖТФ, 49:1 (2023), 5–8
-
Влияние химической обработки и топологии поверхности на блокирующее напряжение GaAs тиристорных мезаструктур, выращенных методом ГФЭ МОС
Физика и техника полупроводников, 56:1 (2022), 134–138
-
Формирование мелкодисперсного термоэлектрика Si$_{1-x}$Ge$_{x}$ при электроимпульсном плазменном спекании
ЖТФ, 91:12 (2021), 1975–1983
-
Демонстрация эффекта резистивного переключения отдельных филаментов в мемристорных структурах Ag/Ge/Si методом атомно-силовой микроскопии
Письма в ЖТФ, 47:15 (2021), 23–26
-
Резистивное переключение в мемристорах на основе гетероструктур Ag/Ge/Si
Письма в ЖТФ, 46:2 (2020), 44–46
-
Получение электроимпульсным плазменным спеканием термоэлектрических материалов на основе Si и Ge
Физика и техника полупроводников, 52:12 (2018), 1455–1459
-
Plasmon resonance induced photoconductivity in the yttria stabilized zirconia films with embedded Au nanoclusters
Физика и техника полупроводников, 52:4 (2018), 470
-
Оптический тиристор на основе системы материалов GaAs/InGaP
Физика и техника полупроводников, 51:11 (2017), 1443–1446
-
Голографический метод количественного измерения фотолитографических реплик толстых рельефных дефектов поверхности
Письма в ЖТФ, 43:11 (2017), 81–87
© , 2026