Рыхлицкий Сергей Владимирович

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Температурная зависимость спектров оптических постоянных CdTe в области края поглощения
   
   Оптика и спектроскопия, 131:9 (2023),  1213–1218
2. Эллипсометрический in situ контроль процессов роста буферных слоев ZnTe и CdTe в технологии молекулярно-лучевой эпитаксии кадмий-ртуть-теллура
   
   Физика и техника полупроводников, 57:6 (2023),  469–475
3. Оптические свойства пиролитического нитрида кремния SiN$_x$, обогащённого кремнием
   
   Оптика и спектроскопия, 130:11 (2022),  1718–1722
4. Оптические свойства сегнетоэлектрических пленок Hf$_x$Zr$_y$O$_2$ и La : Hf$_x$Zr$_y$O$_2$ по данным эллипсометрии
   
   Оптика и спектроскопия, 130:3 (2022),  365–368
5. Оптические и электрохромные свойства тонких пленок амбиполяных полиимидов с пендантными группами на основе производных тоиксантенона
   
   Оптика и спектроскопия, 129:11 (2021),  1393–1399
6. Электрические и вязкоупругие параметры эритроцитов в моделях для диагностики аденоматозных полипов и стадий колоректального рака при оптической детекции клеток в неоднородном переменном электрическом поле
   
   Оптика и спектроскопия, 129:6 (2021),  684–697
7. Atomic structure and optical properties of plasma enhanced chemical vapor deposited SiCOH Low-k dielectric film
   
   Оптика и спектроскопия, 129:5 (2021),  618
8. Исследование температурной зависимости спектров оптических постоянных пленок Hg$_{1-x}$Cd$_{x}$Te, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии
   
   Оптика и спектроскопия, 129:1 (2021),  33–40
9. In situ эллипсометрический мониторинг состава и температуры слоeв HgCdTe в процессе их роста
   
   Физика и техника полупроводников, 55:12 (2021),  1240–1247
10. Оптические свойства кристаллов (ZrO$_{2}$)$_{1-x}$(Y$_{2}$O$_{3}$)$_{x}$ ($x$ = 0–0.037), полученных направленной кристаллизацией расплава
    
    Оптика и спектроскопия, 128:12 (2020),  1830–1836
11. Параметрическая модель спектров оптических постоянных Hg$_{1-x}$Cd$_{x}$Te и определение состава соединения
    
    Оптика и спектроскопия, 128:12 (2020),  1815–1820
12. Оптические свойства нестехиометрического оксида кремния SiO$_{x}$ ($x<$ 2)
    
    Оптика и спектроскопия, 127:5 (2019),  769–773
13. Использование спектральной эллипсометрии и спектроскопии комбинационного рассеяния света в скрининговой диагностике колоректального рака
    
    Оптика и спектроскопия, 127:1 (2019),  170–176
14. Эллипсометрический метод измерения температуры буферных слоев CdTe в технологии молекулярно-лучевой эпитаксии CdHgTe
    
    Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019),  137–142
15. Оптические свойства тонких пленок фталоцианинов цинка по данным спектральной эллипсометрии
    
    Оптика и спектроскопия, 125:6 (2018),  825–829
16. Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ
    
    ЖТФ, 84:5 (2014),  109–112
17. Исследование оптических и структурных свойств оксидных пленок на InP методом спектральной эллипсометрии
    
    ЖТФ, 83:11 (2013),  92–99
18. Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами
    
    ЖТФ, 83:10 (2013),  139–142
19. Изучение морфологии и оптических свойств анодных оксидных слоев на InAs(111)A
    
    Физика и техника полупроводников, 47:4 (2013),  532–537
20. Контроль состава гетероэпитаксиальных слоев Cd$_{1-z}$Zn$_z$Te методом спектральной эллипсометрии
    
    Физика и техника полупроводников, 44:1 (2010),  62–68