|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Состав и морфология поверхности Si(111) с поверхностной пленкой SiO$_{2}$ разной толщины
Физика и техника полупроводников, 55:11 (2021), 1045–1048
-
Влияние имплантации ионов Al$^{+}$ на состав, электронную и кристаллическую структуру поверхности GaP(111)
Физика и техника полупроводников, 54:8 (2020), 716–719
-
Получение наноразмерных пленок CoSiO на поверхности СoSi$_{2}$ методом ионной имплантации
Письма в ЖТФ, 46:16 (2020), 16–18
-
Эмиссионные свойства сплава Pb–Ba, активированного лазерным облучением
ЖТФ, 89:10 (2019), 1626–1629
-
Электронные и оптические свойства тонких пленок GaAlAs/GaAs
ЖТФ, 89:10 (2019), 1589–1591
-
Морфология и электронные свойства наноразмерных структур Si, созданных на поверхности CaF$_{2}$
ЖТФ, 89:2 (2019), 264–267
-
Электронная структура наноразмерных структур Ga$_{1-x}$Al$_x$As, созданных на поверхности GaAs методом ионной имплантации
ЖТФ, 85:10 (2015), 148–151
-
Влияние бомбардировки ионов O$_2^+$ на состав и структуру TiN
ЖТФ, 85:2 (2015), 156–158
-
Исследование структуры и свойств гетероструктурных нанопленок, созданных методами эпитаксии и ионной имплантации
ЖТФ, 83:9 (2013), 146–149
© , 2026