|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Флуктуационный анализ микрорельефа поверхности структур кремний-на-изоляторе после радиационного воздействия
Физика и техника полупроводников, 58:12 (2024), 668–675
-
Особенности трансформации микрорельефа структур “кремний на изоляторе” при воздействии фотонных и корпускулярных излучений
ЖТФ, 93:7 (2023), 1025–1031
-
Получение и свойства мезопористых пленок MoS$_2$
Физика и техника полупроводников, 56:12 (2022), 1112–1119
-
Формирование наноструктурированных пленок MoS$_{2}$, WS$_{2}$, MoO$_{2}$ и гетероструктур на их основе
ЖТФ, 91:10 (2021), 1509–1516
-
Сравнение СТМ и АСМ измерений тонких пленок Mo с моделью Кардара–Паризи–Жанга
ЖТФ, 91:10 (2021), 1466–1473
-
Зависимость топологии эпитаксиальных слоев PbSnTe:In от концентрации In
ЖТФ, 91:6 (2021), 1040–1044
-
Экспериментальные исследования модификации характеристик GaAs-структур с контактами Шоттки после воздействия быстрых нейтронов
Физика и техника полупроводников, 55:10 (2021), 846–849
-
Комплексное исследование кластеров радиационных дефектов в GaAs-структурах после нейтронного воздействия
Письма в ЖТФ, 47:5 (2021), 38–41
-
Зондовая микроскопия и электронно-транспортные свойства тонких эпитаксиальных пленок Mo на сапфире
ЖТФ, 90:11 (2020), 1830–1837
-
Формирование графена на поликристаллическом никеле
ЖТФ, 89:11 (2019), 1756–1762
© , 2026