Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Флуктуационный анализ микрорельефа поверхности структур кремний-на-изоляторе после радиационного воздействия
Физика и техника полупроводников, 58:12 (2024), 668–675
-
Особенности трансформации микрорельефа структур “кремний на изоляторе” при воздействии фотонных и корпускулярных излучений
ЖТФ, 93:7 (2023), 1025–1031
-
Экспериментальные исследования модификации характеристик GaAs-структур с контактами Шоттки после воздействия быстрых нейтронов
Физика и техника полупроводников, 55:10 (2021), 846–849
-
Комплексное исследование кластеров радиационных дефектов в GaAs-структурах после нейтронного воздействия
Письма в ЖТФ, 47:5 (2021), 38–41
-
Высокочастотное детектирование процессов формирования и стабилизации кластера радиационных дефектов в полупроводниковых структурах
Физика и техника полупроводников, 49:12 (2015), 1585–1592
© , 2026