|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Контактные системы “мостикового” типа в InGaAs/InP фотоэлектрических преобразователях
ЖТФ, 96:2 (2026), 345–350
-
Длинноволновые ($\lambda_{0.1}$ = 10 $\mu$m, 296 K) инфракрасные фотоприемники на основе твердого раствора InAsSb$_{0.38}$
Оптика и спектроскопия, 131:11 (2023), 1505–1508
-
Изменение адсорбционных свойств графена в процессе получения биосенсоров вирусных инфекций
Физика и техника полупроводников, 56:12 (2022), 1137–1143
-
Высоковольтные лавинные 4$H$-SiC диоды с прямой фаской
Физика и техника полупроводников, 55:4 (2021), 349–353
-
TCAD-моделирование высоковольтных 4$H$-SiC диодов с охранной полуизолирующей областью
Физика и техника полупроводников, 55:2 (2021), 201–206
-
Высоковольтные 4$H$-SiC диоды Шоттки с полевой обкладкой
Физика и техника полупроводников, 55:2 (2021), 188–194
-
Высоковольтные лавинные 4$H$-SiC-диоды с охранной полуизолирующей областью
Письма в ЖТФ, 47:6 (2021), 48–50
-
Лавинный пробой в 4$H$-SiC диодах Шоттки: вопросы надежности
ЖТФ, 90:12 (2020), 2133–2138
-
Формирование SiC-мезаструктур с пологими боковыми стенками cухим селективным травлением через маску из фоторезиста
ЖТФ, 90:6 (2020), 997–1000
-
О защите высоковольтных мезаструктурных 4$H$-SiC-приборов от поверхностного пробоя: прямая фаска
Физика и техника полупроводников, 54:2 (2020), 207–211
-
Микропрофилирование 4$H$-SiC сухим травлением в технологии формирования структуры полевого транзистора с затвором Шоттки
Физика и техника полупроводников, 54:1 (2020), 97–102
-
Плазмонный резонанс в новых металло-полупроводниковых метаматериалах AsSb–AlGaAs
Физика и техника полупроводников, 49:12 (2015), 1635–1639
-
Туннельные диоды GaAs:Si/GaAs:Be для многопереходных солнечных элементов, выращиваемые методом молекулярно-пучковой эпитаксии
Письма в ЖТФ, 41:18 (2015), 82–88
-
Резонанс Фрёлиха в системе AsSb/AlGaAs
Физика твердого тела, 56:10 (2014), 1891–1895
-
Темновые вольт-амперные характеристики трехпереходных солнечных элементов: связь с эффективностью и влияние пассивирующих обработок
ЖТФ, 84:6 (2014), 92–97
© , 2026