|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Изучение кинетики сближения ступеней поверхности Si(100)
Физика твердого тела, 65:2 (2023), 173–179
-
Формирование InAs/GaP-гетероструктур с квантовыми ямами на подложках кремния методом молекулярно-лучевой эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 55:2 (2021), 139–146
-
Влияние кристаллографической ориентации пленок GaSb на их структурные свойства при гетероэпитаксии на вицинальных подложках Si(001) методом молекулярно-лучевой эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 54:12 (2020), 1289–1295
-
Маска на основе эпитаксиального слоя Si для самокаталитического роста нитевидных нанокристаллов на подложках GaAs (111)$B$ и (100)
Письма в ЖТФ, 46:4 (2020), 11–14
-
Рост твердых растворов InAs$_{x}$Sb$_{1-x}$ на отклоненных подложках GaAs(001) методом молекулярно-лучевой эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 53:4 (2019), 512–519
-
Формирование ступенчатой поверхности Si(100) и ее влияние на рост островков Ge
Физика и техника полупроводников, 52:3 (2018), 409–413
-
Метод диффузии цинка в InP через узкий зазор с использованием планарного источника на основе Zn$_{3}$P$_{2}$
Письма в ЖТФ, 44:14 (2018), 19–25
-
Структурное состояние эпитаксиальных пленок GaP разных полярностей на отклоненных подложках Si(001)
Письма в ЖТФ, 43:4 (2017), 64–71
-
Напряженные многослойные структуры с псевдоморфными слоями GeSiSn
Физика и техника полупроводников, 50:12 (2016), 1610–1614
-
Спектроскопия сечения неупругого рассеяния электронов наногетероструктур Ge$_x$Si$_{1-x}$
Физика и техника полупроводников, 48:2 (2014), 237–241
© , 2026