|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Исследование спектров электролюминесценции в гетероструктурах с квантовыми ямами на основе твердых растворов HgCdTe при латеральной токовой накачке
Письма в ЖТФ, 52:5 (2026), 9–13
-
Диоды Шоттки на основе монокристаллических гетероструктур Al/AlGaN/GaN для микроволнового детектирования с нулевым смещением
ЖТФ, 95:6 (2025), 1148–1156
-
CVD-алмазные структуры с $p$–$n$-переходом — диоды и транзисторы
ЖТФ, 95:3 (2025), 540–548
-
Исследование фото- и электролюминесценции центров окраски, связанных с азотом, в алмазном $p$–$i$–$n$-диоде
Письма в ЖТФ, 51:10 (2025), 48–51
-
Электролюминесценция центров окраски германий–вакансия в алмазном $p$–$i$–$n$-диоде
Письма в ЖТФ, 51:8 (2025), 3–6
-
Невплавные омические контакты с пониженным сопротивлением к эпитаксиальным слоям алмаза $p$- и $n$-типа и их термическая стабильность
Физика и техника полупроводников, 58:8 (2024), 409–414
-
Электрофизические свойства многослойных пленок алмазоподобного углерода с различным содержанием $sp^3$-фазы
Письма в ЖТФ, 50:17 (2024), 30–33
-
Термический отжиг многослойных пленок алмазоподобного углерода с варьируемым содержанием $sp^3$-фазы
Письма в ЖТФ, 50:13 (2024), 12–15
-
Плазмохимическое осаждение гидрогенизованных пленок DLC с различным содержанием водорода и $sp^3$-гибридного углерода
Физика и техника полупроводников, 57:5 (2023), 309–312
-
Планарные (латеральные) светоизлучающие диоды с Ge(Si)-наноостровками, встроенными в фотонный кристалл
Письма в ЖТФ, 49:22 (2023), 12–15
-
Обработка поверхности арсенида галлия после травления в плазме C$_2$F$_5$Cl
Письма в ЖТФ, 49:19 (2023), 39–42
-
Влияние параметров индуктивно-связанной плазмы хлорпентафторэтана на скорость и характеристики травления арсенида галлия
Физика и техника полупроводников, 56:7 (2022), 685–688
-
Влияние термического отжига на транспортные свойства низкобарьерных диодов Мотта Ti/AlGaN/GaN
Физика и техника полупроводников, 56:7 (2022), 627–629
-
Влияние добавки хлорпентафторэтана в составе хлорсодержащей плазмы на скорость и характеристики профиля травления арсенида галлия
Физика и техника полупроводников, 55:10 (2021), 837–840
-
Исследование нелегированных нанокристаллических алмазных пленок, выращенных из газовой фазы в плазме СВЧ разряда
Физика и техника полупроводников, 55:1 (2021), 49–58
-
Особенности газофазной эпитаксии GaAs на непланарных подложках
Физика и техника полупроводников, 54:9 (2020), 958–961
-
Формирование омических контактов к слою алмазоподобного углерода, осажденному на диэлектрическую алмазную подложку
Физика и техника полупроводников, 54:9 (2020), 865–867
-
Модификация соотношения $sp^2/sp^3$-гибридного углерода в PECVD пленках DLC
Физика и техника полупроводников, 54:9 (2020), 855–858
-
Использование импульсного лазерного отжига для формирования омических контактов Mo/Ti к алмазу
Письма в ЖТФ, 46:11 (2020), 34–38
-
Исследование формирования омических контактов Au/Mo/Ti с пониженным сопротивлением к эпитаксиальным слоям алмаза $p$-типа
ЖТФ, 89:12 (2019), 1923–1932
-
Омические контакты к эпитаксиальным структурам CVD-алмаза с дельта-слоями бора
Физика и техника полупроводников, 53:10 (2019), 1386–1390
-
Вертикальный полевой транзистор с управляющим $p$–$n$-переходом на основе GaAs
Физика и техника полупроводников, 53:10 (2019), 1311–1314
-
Плазмохимическое осаждение алмазоподобных пленок на поверхности монокристаллического высоколегированного алмаза
Физика и техника полупроводников, 53:9 (2019), 1229–1232
-
Новый подход к анализу фазового состава углеродсодержащих материалов методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии
Письма в ЖТФ, 45:2 (2019), 50–54
-
Плазмохимическое травление арсенида галлия в индуктивно-связанной плазме C$_{2}$F$_{5}$Cl
Физика и техника полупроводников, 52:11 (2018), 1362–1365
-
Низкотемпературное осаждение пленок SiN$_{x}$ в индуктивно-связанной плазме SiH$_{4}$/Ar + N$_{2}$ в условиях сильного разбавления силана аргоном
Физика и техника полупроводников, 51:11 (2017), 1503–1506
-
Сильно легированные слои GaAs : Te, полученные в процессе МОГФЭ с использованием диизопропилтеллурида в качестве источника
Физика и техника полупроводников, 50:11 (2016), 1459–1462
© , 2026