RUS  ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ

Лобаев Михаил Александрович

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

  1. CVD-алмазные структуры с $p$$n$-переходом — диоды и транзисторы

    ЖТФ, 95:3 (2025),  540–548
  2. Исследование фото- и электролюминесценции центров окраски, связанных с азотом, в алмазном $p$$i$$n$-диоде

    Письма в ЖТФ, 51:10 (2025),  48–51
  3. Электролюминесценция центров окраски германий–вакансия в алмазном $p$$i$$n$-диоде

    Письма в ЖТФ, 51:8 (2025),  3–6
  4. Невплавные омические контакты с пониженным сопротивлением к эпитаксиальным слоям алмаза $p$- и $n$-типа и их термическая стабильность

    Физика и техника полупроводников, 58:8 (2024),  409–414
  5. Переход между законами Мотта и Аррениуса в температурных зависимостях сопротивлений сильно легированных бором дельта-слоев в искусственном алмазе

    Физика и техника полупроводников, 57:4 (2023),  259–264
  6. Investigation of boron-doped delta layers in CVD diamond grown on single-sector HPHT substrates

    Наносистемы: физика, химия, математика, 13:5 (2022),  578–584
  7. Исследование нелегированных нанокристаллических алмазных пленок, выращенных из газовой фазы в плазме СВЧ разряда

    Физика и техника полупроводников, 55:1 (2021),  49–58
  8. Формирование многослойных наноструктур NV-центров в монокристаллическом CVD-алмазе

    Письма в ЖТФ, 46:13 (2020),  19–23
  9. Использование импульсного лазерного отжига для формирования омических контактов Mo/Ti к алмазу

    Письма в ЖТФ, 46:11 (2020),  34–38
  10. Исследование формирования омических контактов Au/Mo/Ti с пониженным сопротивлением к эпитаксиальным слоям алмаза $p$-типа

    ЖТФ, 89:12 (2019),  1923–1932
  11. Омические контакты к эпитаксиальным структурам CVD-алмаза с дельта-слоями бора

    Физика и техника полупроводников, 53:10 (2019),  1386–1390
  12. Создание локализованных ансамблей NV-центров в CVD-алмазе с помощью облучения электронным пучком

    Письма в ЖТФ, 45:6 (2019),  36–39
  13. Контракция микроволнового разряда в реакторе для газофазного осаждения алмаза

    Письма в ЖТФ, 45:3 (2019),  30–33
  14. Новый подход к анализу фазового состава углеродсодержащих материалов методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии

    Письма в ЖТФ, 45:2 (2019),  50–54
  15. Новые кластерные вторичные ионы для количественного анализа концентрации атомов бора в алмазе методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии

    Письма в ЖТФ, 44:7 (2018),  52–60
  16. Erratum to: “Atomic composition and electrical characteristics of epitaxial CVD diamond layers doped with boron”

    Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017),  1151
  17. Фотодетектор видимого и ближнего инфракрасного диапазона длин волн на основе осажденного из газовой фазы алмаза

    Письма в ЖТФ, 43:24 (2017),  65–71
  18. Атомный состав и электрофизические характеристики эпитаксиальных слоев CVD алмаза, легированных бором

    Физика и техника полупроводников, 50:12 (2016),  1595–1598


© МИАН, 2026