|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Обобщенная нуль-эллипсометрия в схеме “поляризатор–образец–анализатор”
Оптика и спектроскопия, 130:3 (2022), 377–386
-
Плазмон-стимулированное фотолегирование в тонкослойной структуре As$_{2}$S$_{3}$–Ag
Оптика и спектроскопия, 127:5 (2019), 865–869
-
Поляризованная фотолюминесценция $nc$-Si–SiO$_{x}$ наноструктур
Физика и техника полупроводников, 50:1 (2016), 97–102
-
Влияние легирования фторидом эрбия на фотолюминесценцию пленок SiO$_x$
Физика и техника полупроводников, 46:3 (2012), 338–343
-
Свойства низкорефрактивных пленок, полученных по методу близкого переноса при сублимации графита в квазизамкнутом объеме
ЖТФ, 81:11 (2011), 125–129
-
Особенности и природа полосы фотолюминесценции 890 нм, обнаруженной после низкотемпературного отжига пленок SiO$_x$
Физика и техника полупроводников, 45:11 (2011), 1470–1475
-
Erratum to: "Electronic States on Silicon Surface after Deposition and Annealing of SiO$_x$ Films"
Физика и техника полупроводников, 45:6 (2011), 856
-
Электронные состояния на поверхности кремния после напыления и отжига пленки SiO$_x$
Физика и техника полупроводников, 45:5 (2011), 596–601
-
Светочувствительное акустическое поглощение в слоистой структуре
LiNb0$_{3}{-}$(As$_{2}$S$_{3}{-}$Ag)
ЖТФ, 54:6 (1984), 1231–1233
© , 2026