RUS  ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ

Козловский В В

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

  1. Vacancy-phosphorus complexes in electron-irradiated floating-zone $n$-type silicon: new points in annealing studies

    Физика и техника полупроводников, 54:1 (2020),  45
  2. Исследование влияния структурных дефектов на спектры фотолюминесценции в $n$-3$C$-SiC

    Письма в ЖТФ, 45:11 (2019),  28–30
  3. Interaction rates of group-III and group-V impurities with intrinsic point defects in irradiated Si and Ge

    Физика и техника полупроводников, 52:13 (2018),  1578
  4. Radiation-produced defects in germanium: experimental data and models of defects

    Физика и техника полупроводников, 51:12 (2017),  1632–1646
  5. Some challenging points in the identification of defects in floating-zone $n$-type silicon irradiated with 8 and 15 Mev protons

    Физика и техника полупроводников, 50:10 (2016),  1313–1319
  6. Electrical properties of diluted $n$- and $p$-Si$_{1-x}$Ge$_x$ at small $x$

    Физика и техника полупроводников, 48:12 (2014),  1592–1596
  7. Диффузия фосфора в карбиде кремния

    Физика твердого тела, 34:6 (1992),  1956–1958
  8. Трансмутационное легирование полупроводников под действием заряженных частиц (Обзор)

    Физика и техника полупроводников, 26:1 (1992),  3–21
  9. Перераспределение заряженной примеси в полупроводнике в условиях протонно-стимулированной диффузии

    ЖТФ, 54:6 (1984),  1157–1162
  10. Протонно-стимулированная диффузия сурьмы в кремнии

    Физика и техника полупроводников, 18:5 (1984),  958–960
  11. Влияние поверхности на радиационное дефектообразование в кремнии при высокотемпературном протонном облучении

    Физика и техника полупроводников, 18:5 (1984),  956–958


© МИАН, 2026