|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Моделирование процессов облучения структур Cr/4H-SiC высокоэнергетическими ионами Ar
ЖТФ, 95:6 (2025), 1157–1163
-
Облучение ионами аргона диодов Шоттки на основе 4H-SiC
Физика и техника полупроводников, 58:9 (2024), 493–496
-
Эффект геттерирования в Cr/4$H$-SiC УФ фотодетекторах при облучении протонами с энергией 15 MeV
ЖТФ, 93:4 (2023), 562–567
-
Облучение ионами аргона Cr/4H-SiC-фотоприемников
Физика и техника полупроводников, 56:2 (2022), 254–258
-
Структурные, электрические и оптические свойства 4$H$-SiC для ультрафиолетовых фотоприемников
Физика и техника полупроводников, 54:12 (2020), 1368–1373
-
Структурные и оптические характеристики ультрафиолетовых 4$H$-SiC-детекторов, облученных ионами аргона
Физика и техника полупроводников, 54:11 (2020), 1244–1248
-
Влияние температуры на характеристики 4$H$-SiC-фотоприемника
Физика и техника полупроводников, 54:2 (2020), 195–201
-
Облучение протонами 4$H$-SiC фотоприемников с барьером Шоттки
Физика и техника полупроводников, 53:6 (2019), 856–861
-
Фотоэлектрические характеристики структур карбид кремния–кремний, выращенных методом замещения атомов в кристаллической решетке кремния
Физика и техника полупроводников, 51:5 (2017), 651–658
-
Квантовая эффективность 4$H$-SiC-детекторов в диапазоне 114–400 nm
Письма в ЖТФ, 42:20 (2016), 73–78
-
Облучение тяжелыми ионами 4H-SiC детекторов ультрафиолетового излучения
Физика и техника полупроводников, 49:4 (2015), 550–556
-
Эффект дальнодействия в 6H-SiC при облучении ионами Хе
Письма в ЖТФ, 41:5 (2015), 47–53
-
Оптические и электрические свойства 4H-SiC, облученного ионами Xe
Физика и техника полупроводников, 48:2 (2014), 167–174
-
Высокотемпературный радиационно стойкий выпрямитель на основе $p^+$–$n$-переходов в 4H-SiC, ионно-легированном алюминием
Физика и техника полупроводников, 44:6 (2010), 807–816
-
Влияние воздействия ультракоротких лазерных импульсов на электрофизические свойства карбида кремния
Письма в ЖТФ, 11:11 (1985), 669–671
-
Катодолюминесценция SiC, ионно-легированного Al и Ar
Физика и техника полупроводников, 18:4 (1984), 700–703
© , 2026