RUS  ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ

Машин Александр Иванович

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

  1. Влияние электрического поля на скорость гидрогенизации графена в индукционно-связанной плазме

    ЖТФ, 94:7 (2024),  1002–1007
  2. Способ формирования пленок фазы $\beta$-FeSi$_{2}$ методом импульсного лазерного осаждения в вакууме

    Физика и техника полупроводников, 55:9 (2021),  773–778
  3. Квантовые точки “ядро–оболочка” Ge/Si в матрице оксида алюминия: влияние температуры отжига на оптические свойства

    Физика и техника полупроводников, 54:2 (2020),  129–137
  4. Локально деформированные структуры Ge/SOI с улучшенным теплоотводом как активная среда для кремниевой оптоэлектроники

    Физика и техника полупроводников, 53:10 (2019),  1360–1365
  5. Структурная модификация фемтосекундным лазерным излучением пленок халькогенидного стекла As$_{50}$S$_{50}$, полученных методом плазмохимического осаждения из газовой фазы

    Оптика и спектроскопия, 124:5 (2018),  706–712
  6. Формирование и исследование локально-растянутых Ge-микроструктур для кремниевой фотоники

    Физика и техника полупроводников, 52:11 (2018),  1331–1336
  7. Влияние температуры осаждения и отжига на люминесценцию германиевых нанокристаллов, сформированных в пленках GeO$_{x}$ и многослойных структурах Ge/SiO$_{2}$

    Физика твердого тела, 59:5 (2017),  965–971
  8. Формирование нанокристаллов кремния в многослойных нанопериодических структурах $a$-SiO$_{x}$/диэлектрик по результатам синхротронных исследований

    Физика и техника полупроводников, 51:3 (2017),  363–366
  9. Структура и оптические свойства нанокомпозитов серебро/полиакрилонитрил

    ЖТФ, 86:11 (2016),  80–85
  10. Условия выращивания высококачественных релаксированных слоев Si$_{1-x}$Ge$_{x}$ с повышенным содержанием германия методом газофазного разложения моногермана на сублимирующей “горячей проволоке” из Si

    Физика и техника полупроводников, 50:9 (2016),  1270–1275
  11. Эпитаксиально выращенные моноизотопные слои Si, Ge и твердого раствора Si$_{1-x}$Ge$_{x}$: получение и некоторые свойства

    Физика и техника полупроводников, 50:3 (2016),  350–353
  12. Формирование нанокристаллов кремния в многослойных нанопериодических структурах Al$_2$O$_3$/SiO$_x$/Al$_2$O$_3$/ SiO$_x$/$\dots$/Si(100) по данным синхротронных исследований и фотолюминесценции

    Физика и техника полупроводников, 49:3 (2015),  421–425
  13. Характеристики диодных структур на основе фуллерена на полимерных и стеклянных подложках

    Физика и техника полупроводников, 49:1 (2015),  138–141
  14. Диэлектрические свойства нанокомпозитов Ag/ПАН

    ЖТФ, 84:7 (2014),  67–71
  15. Роль металлических контактов в солнечных элементах на основе диоксида титана и ди-(изотиоцианат)-бис-(2,2'-бипиридил-4,4'-дикарбоксилат)рутения(II)

    Физика и техника полупроводников, 48:5 (2014),  702–704
  16. Синхротронные исследования формирования нанокластеров кремния в многослойных наноструктурах Al$_2$O$_3$/SiO$_x$/Al$_2$O$_3$/SiO$_x$/$\dots$/Si(100)

    Физика и техника полупроводников, 47:10 (2013),  1327–1334
  17. Термическая эволюция морфологии, структуры и оптических свойств многослойных нанопериодических систем, полученных путем вакуумного испарения SiO и SiO$_2$

    Физика и техника полупроводников, 47:4 (2013),  460–465
  18. Частотная зависимость проводимости в нанокомпозитах Ag/PAN

    ЖТФ, 82:7 (2012),  69–74
  19. Исследование морфологии нанокомпозита серебро/полиакрилонитрил

    ЖТФ, 81:1 (2011),  95–100
  20. Эволюция оптических свойств при отжиге многослойной нанопериодической системы SiO$_x$/ZrO$_2$, содержащей нанокластеры кремния

    Физика и техника полупроводников, 45:6 (2011),  747–753
  21. Морфология, электронная структура и оптические свойства самоформирующихся кремниевых наноструктур на поверхности высокоориентированного пиролитического графита

    Физика и техника полупроводников, 45:1 (2011),  57–61
  22. Конфокальная рамановская микроскопия самоформирующихся островков GeSi/Si(001)

    Физика и техника полупроводников, 44:11 (2010),  1552–1558
  23. Электрические и оптические свойства полупроводника $a$-Si$_{1-x}$Ge$_{x}$

    Физика и техника полупроводников, 20:7 (1986),  1288–1291


© МИАН, 2026