Макаренко Игорь Васильевич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Дифференциальная туннельная проводимость в лентах $n$-Bi$_2$Te$_{3-y}$Se$_y$, полученных спиннингованием расплава
   
   Физика твердого тела, 67:12 (2025),  2257–2263
2. Исследование поверхности в нанокомпозитных термоэлектриках на основе халькогенидов висмута и сурьмы методами сканирующей туннельной спектроскопии и атомно-силовой микроскопии
   
   Физика твердого тела, 66:11 (2024),  1864–1870
3. Исследование межслоевой поверхности пленок $p$-Bi$_{2-x}$Sb$_x$Te$_3$ топологических термоэлектриков методами сканирующей туннельной спектроскопии и микроскопии
   
   Физика твердого тела, 66:8 (2024),  1318–1324
4. Сканирующая туннельная микроскопия в халькогенидных термоэлектриках (Bi, Sb)$_2$(Te, Se, S)$_3$
   
   Физика и техника полупроводников, 56:1 (2022),  22–27
5. Дефекты межслоевой поверхности и термоэлектрические свойства в слоистых пленках топологических изоляторов $n$-Bi$_{2}$Te$_{2.7}$Se$_{0.15}$S$_{0.15}$
   
   Физика твердого тела, 63:10 (2021),  1476–1482
6. Дифференциальная туннельная проводимость в многокомпонентных твердых растворах Bi$_{2-x}$Sb$_{x}$Te$_{3-y-z}$Se$_{y}$S$_{z}$
   
   Физика и техника полупроводников, 55:12 (2021),  1128–1131
7. Топологические поверхностные состояния фермионов Дирака в термоэлектриках $n$-Bi$_{2}$Te$_{3-y}$Se$_{y}$
   
   Физика и техника полупроводников, 53:5 (2019),  654–658
8. Морфология межслоевой поверхности и микро-рамановские спектры в слоистых пленках топологических изоляторов на основе теллурида висмута
   
   Физика и техника полупроводников, 51:6 (2017),  763–765
9. Морфология поверхности и рамановская спектроскопия тонких слоев халькогенидов висмута и сурьмы
   
   Физика твердого тела, 58:7 (2016),  1390–1397
10. Эффект накопления и релаксации носителей заряда в активной области полимерных и композитных (полимер–наночастицы золота) полевых транзисторных структур
    
    Физика твердого тела, 56:5 (2014),  1015–1018
11. Поведение локально инжектированных зарядов в нанотонких слоях high-k диэлектрика SmScO$_3$
    
    ЖТФ, 84:10 (2014),  122–126
12. Туннельная микроскопия поверхности кристаллов WSe$_{2}$
    
    Физика твердого тела, 32:5 (1990),  1523–1525
13. Анизотропия оптического отражения кубических полупроводников, обусловленная поверхностным изгибом зон
    
    Физика и техника полупроводников, 20:6 (1986),  1037–1041