Ярыкин Николай Алексеевич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Исследование энергетического спектра кристаллов Si : Mg методом DLTS
   
   Физика и техника полупроводников, 53:6 (2019),  799–804
2. Влияние никеля и меди, введенных при комнатной температуре, на рекомбинационные свойства протяженных дефектов в кремнии
   
   Физика и техника полупроводников, 53:4 (2019),  433–436
3. Формирование межузельного углерода в облученном легированном медью кремнии
   
   Физика и техника полупроводников, 49:6 (2015),  728–731
4. Идентификация медных и медь–водородных комплексов в кремнии
   
   Физика и техника полупроводников, 47:2 (2013),  239–243
5. Кинетика отжига борсодержащих центров в кремнии, облученном электронами
   
   Физика и техника полупроводников, 47:2 (2013),  192–194
6. Комментарий к статье Е.А. Татохина, А.В. Каданцева, А.Е. Бормонтова и В.Г. Задорожнего “Статистический метод релаксационной спектроскопии глубоких уровней в полупроводниках”
   
   Физика и техника полупроводников, 45:6 (2011),  852–854
7. Взаимодействие примеси меди с радиационными дефектами в легированном бором кремнии
   
   Физика и техника полупроводников, 44:8 (2010),  1017–1020
8. Влияние отжига на электронно-микроскопическое изображение и спектр DLTS дислокаций в деформированном кремнии
   
   Физика и техника полупроводников, 20:5 (1986),  907–910