RUS
ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ
Фридман В А
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
Новый метод исследования микронеоднородности локальных центров в высокоомных полупроводниковых материалах с использованием РЭМ
Письма в ЖТФ
,
13
:7 (1987),
385–388
Исследование спектра глубоких уровней в эпитаксиальных структурах методом релаксационной спектроскопии фотоиндуцированных токов
Физика и техника полупроводников
,
19
:4 (1985),
735–737
©
МИАН
, 2026