Заитов Ф.А., Исаев Ф.К. оглы, Горшков А.В. Дефектообразование и диффузионные процессы в некоторых полупроводниковых твердых растворах. - Баку : Азернешр, 1984. - 211 с.
Радиационная стойкость в оптоэлектронике / [Ф. А. Заитов, Н. Н. Литвинова, В. Г. Савицкий, В. Г. Средин]; Под ред. В. Г. Средина. - Москва : Воениздат, 1987. - 167 с.