|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Определение плотности состояний в разрешенных зонах антимонида индия
и сульфида свинца
Физика и техника полупроводников, 20:5 (1986), 954–957
-
Стадии формирования границы раздела кремния с термическим окислом
Физика и техника полупроводников, 20:3 (1986), 477–480
-
Комплексный эффект поля на поверхности твердых растворов
группы GaP$_{x}$As$_{1-x}$ (${0\leqslant x\leqslant1}$)
Физика и техника полупроводников, 18:8 (1984), 1408–1412
-
Эффект поля на поверхности полуметалла HgTe и полупроводника
Cd$_{0.2}$Hg$_{0.8}$Te
Физика и техника полупроводников, 18:6 (1984), 1064–1068
-
Характеристики межфазовой границы Si$-$SiO$_{2}$ и поверхностная подвижность дырок в инверсионном слое
Физика и техника полупроводников, 18:3 (1984), 393–397
-
Вырождение и непараболичность зон в измерениях поверхностных эффектов
на полупроводниках
Физика и техника полупроводников, 17:5 (1983), 818–823
-
Граница раздела сверхтонкий собственный окисел–полупроводник
Физика и техника полупроводников, 17:3 (1983), 398–401
-
МДП-диоды на основе InSb и InAs с $N$-образной ВАХ в области
инверсионных напряжений
Письма в ЖТФ, 9:20 (1983), 1247–1250
© , 2026