|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Разработка технологии высокопрочных термоэлектриков диаметром до 35 мм на основе поликристаллов Bi$_2$Te$_3$ методом горячей экструзии
Физика и техника полупроводников, 56:1 (2022), 17–21
-
Температурная зависимость параметра решетки порошков Cu$_{2-x}$Se (0.03 $\le x\le$ 0.23), полученных методом механохимического синтеза
Физика твердого тела, 60:11 (2018), 2255–2259
-
Влияние валентного состояния ионов Ce на фазовую стабильность и механические свойства кристаллов твердых растворов на основе ZrO$_{2}$
Физика твердого тела, 59:10 (2017), 1914–1919
-
Структура пластин твердого раствора Bi$_{2}$Se$_{0.3}$Te$_{2.7}$, полученных кристаллизацией в плоской полости методом Бриджмена
Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017), 1064–1067
-
Структура соединения Сu$_{2}$Se, полученного различными методами
Физика и техника полупроводников, 51:7 (2017), 904–907
-
Экспериментальные и теоретические исследования термоэлектрических свойств селенида меди
Физика и техника полупроводников, 51:7 (2017), 892–895
-
Изменение механизма проводимости в кристаллах на основе ZrO$_{2}$ в зависимости от концентрации стабилизирующей примеси Y$_{2}$O$_{3}$
Письма в ЖТФ, 43:6 (2017), 23–30
-
Механические свойства твердых растворов (Bi, Sb)$_{2}$Te$_{3}$, полученных направленной кристаллизацией и искровым плазменным спеканием
Письма в ЖТФ, 42:2 (2016), 96–103
-
Структура и механические свойства кристаллов частично стабилизированного диоксида циркония после термообработки
Физика твердого тела, 55:8 (2013), 1578–1584
-
Особенности образования радиационных дефектов в слое кремния структур “кремний на изоляторе”
Физика и техника полупроводников, 45:6 (2011), 754–758
-
Преимущественный механизм растворения собственных компонентов в сульфиде кадмия
Докл. АН СССР, 307:5 (1989), 1108–1111
-
Период решетки монокристаллов сульфида кадмия, выращенных при разных давлениях паров собственных компонентов
Докл. АН СССР, 307:3 (1989), 597–600
-
Идентификация скоплений междоузельных атомов в монокристаллах арсенида галлия, легированного кремнием, методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей
Физика твердого тела, 31:6 (1989), 50–56
-
Диффузное рассеяние рентгеновских лучей микродефектами в кремнии, полученном по методу Чохральского
Физика твердого тела, 27:4 (1985), 1246–1248
-
Памяти Сергея Петровича Соловьева к 80-летию со дня рождения (1932–2000)
Физика и техника полупроводников, 46:10 (2012), 1374–1375
© , 2026