|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Электронная структура валентной зоны нитрида галлия при адсорбции натрия
Физика твердого тела, 67:4 (2025), 617–623
-
Исследования наноразмерных колончатых гетероструктур Al$_x$Ga$_{1-x}$N/AlN, выращенных на подложках кремния с различными модификациями поверхности
ЖТФ, 94:1 (2024), 138–150
-
Изменение электронной структуры поверхности GaN/Si(111) при адсорбции Li
Физика и техника полупроводников, 56:10 (2022), 961–965
-
Рост тонкопленочных AlGaN/GaN эпитаксиальных гетероструктур на гибридных подложках, содержащих слои карбида кремния и пористого кремния
Физика и техника полупроводников, 56:6 (2022), 547–552
-
Влияние быстрого термического отжига на распределение атомов азота в GaAsN/GaAs
Физика и техника полупроводников, 55:11 (2021), 1077–1080
-
Влияние предобработки подложки кремния на свойства пленок GaN, выращенных методом хлорид-гидридной газофазной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 55:8 (2021), 704–710
-
Влияние слоя нанопористого кремния на практическую реализацию и особенности эпитаксиального роста слоев GaN на темплейтах SiC/$por$-Si/$c$-Si
Физика и техника полупроводников, 54:5 (2020), 491–503
-
Оптические свойства гибридных гетероструктур GaN/SiC/$por$-Si/Si(111)
Физика и техника полупроводников, 54:4 (2020), 346–354
-
Фотоэмиссионные исследования электронной структуры GaN, выращенного методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота
Физика твердого тела, 61:12 (2019), 2294–2297
-
Метод управления полярностью слоев GaN при эпитаксиальном синтезе GaN/AlN гетероструктур на гибридных подложках SiC/Si
Физика твердого тела, 61:12 (2019), 2289–2293
-
Металл-усиленное фотохимическое травление N- и Ga-полярных эпитаксиальных слоев GaN
Физика и техника полупроводников, 53:12 (2019), 1726–1732
-
Особенности МПЭ ПА синтеза слоев $n^{+}$-GaN на виртуальных подложках GaN/$c$-Al$_{2}$O$_{3}$
Физика и техника полупроводников, 53:9 (2019), 1212–1217
-
Структурные и морфологичеcкие свойства гибридных гетероструктур на основе GaN, выращенного на “податливой” подложке por-Si(111)
Физика и техника полупроводников, 53:8 (2019), 1141–1151
-
Исследование влияния переходного слоя нанопористого кремния на атомное и электронное строение, а также оптические свойства гетероструктур A$^{\mathrm{III}}$N/por-Si, выращенных методом плазменно-активированной молекулярно-пучковой эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 53:7 (2019), 1010–1016
-
Фотоэлектрические свойства слоев GaN, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии с плазменной активацией на подложках Si(111) и эпитаксиальных слоях SiC на Si(111)
Физика и техника полупроводников, 53:2 (2019), 190–198
-
Влияние буферного слоя por-Si на оптические свойства эпитаксиальных гетероструктур In$_{x}$Ga$_{1-x}$N/Si(111) с наноколончатой морфологией пленки
Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019), 70–76
-
Электронные и оптические свойства гибридных гетероструктур GaN/por-Si(111)
Квантовая электроника, 49:6 (2019), 545–551
-
Влияние буферного слоя $por$-Si на структуру и морфологию эпитаксиальных гетероструктур In$_{x}$Ga$_{1-x}$N/Si(111)
Физика и техника полупроводников, 52:13 (2018), 1553–1562
-
Особенности начальных стадий роста GaN на подложках Si(111) при молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота
Физика и техника полупроводников, 52:12 (2018), 1425–1429
-
Growth of GaN layers on Si(111) substrates by plasma-assisted molecular beam epitaxy
Физика и техника полупроводников, 52:5 (2018), 524
-
Влияние параметров нитридизации и начальных ростовых условий на полярность эпитаксиальных слоев GaN, выращенных молекулярно-пучковой эпитаксией с плазменной активацией азота на подложках Si(111)
Письма в ЖТФ, 43:21 (2017), 47–54
-
Управление морфологией AlN при молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота на подложках Si(111)
Физика и техника полупроводников, 49:2 (2015), 283–286
-
Квантово-размерный эффект Штарка и локализация носителей в квантовых ямах Al$_{0.3}$Ga$_{0.7}$N/Al$_{0.4}$Ga$_{0.6}$N c различной морфологией
Физика и техника полупроводников, 46:8 (2012), 1022–1026
-
Контроль упругих напряжений в гетероструктурах III–N методом дифракции отраженных быстрых электронов в процессе молекулярно-пучковой эпитаксии
Письма в ЖТФ, 38:9 (2012), 96–102
-
Солнечно-слепые УФ-фотокатоды на основе гетероструктур AlGaN с границей спектральной чувствительности в диапазоне 300–330 nm
Письма в ЖТФ, 38:9 (2012), 88–95
© , 2026