|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Исследования наноразмерных колончатых гетероструктур Al$_x$Ga$_{1-x}$N/AlN, выращенных на подложках кремния с различными модификациями поверхности
ЖТФ, 94:1 (2024), 138–150
-
Влияние режимов травления на морфологию и состав поверхности многослойного пористого кремния
Физика и техника полупроводников, 57:8 (2023), 613–616
-
Рост тонкопленочных AlGaN/GaN эпитаксиальных гетероструктур на гибридных подложках, содержащих слои карбида кремния и пористого кремния
Физика и техника полупроводников, 56:6 (2022), 547–552
-
Свойства податливых подложек на основе пористого кремния, сформированных двухстадийным травлением
Физика и техника полупроводников, 55:11 (2021), 1021–1026
-
Влияние предобработки подложки кремния на свойства пленок GaN, выращенных методом хлорид-гидридной газофазной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 55:8 (2021), 704–710
-
Влияние слоя нанопористого кремния на практическую реализацию и особенности эпитаксиального роста слоев GaN на темплейтах SiC/$por$-Si/$c$-Si
Физика и техника полупроводников, 54:5 (2020), 491–503
-
Оптические свойства гибридных гетероструктур GaN/SiC/$por$-Si/Si(111)
Физика и техника полупроводников, 54:4 (2020), 346–354
-
Структурные и морфологичеcкие свойства гибридных гетероструктур на основе GaN, выращенного на “податливой” подложке por-Si(111)
Физика и техника полупроводников, 53:8 (2019), 1141–1151
-
Исследование влияния переходного слоя нанопористого кремния на атомное и электронное строение, а также оптические свойства гетероструктур A$^{\mathrm{III}}$N/por-Si, выращенных методом плазменно-активированной молекулярно-пучковой эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 53:7 (2019), 1010–1016
-
Влияние буферного слоя por-Si на оптические свойства эпитаксиальных гетероструктур In$_{x}$Ga$_{1-x}$N/Si(111) с наноколончатой морфологией пленки
Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019), 70–76
-
Электронные и оптические свойства гибридных гетероструктур GaN/por-Si(111)
Квантовая электроника, 49:6 (2019), 545–551
-
Влияние буферного слоя $por$-Si на структуру и морфологию эпитаксиальных гетероструктур In$_{x}$Ga$_{1-x}$N/Si(111)
Физика и техника полупроводников, 52:13 (2018), 1553–1562
-
Влияние режимов электрохимического травления на морфологию, структурные и оптические свойства пористого арсенида галлия
Физика и техника полупроводников, 52:9 (2018), 1041–1048
-
Влияние разориентации подложки и ее предварительного травления на структурные и оптические свойства интегрированных гетероструктур GaAs/Si(100), полученных методом газофазной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 52:8 (2018), 881–890
-
Особенности оптических характеристик пористого кремния и их модификация с использованием химической обработки поверхности
Физика и техника полупроводников, 52:3 (2018), 342–348
-
Влияние разориентации подложки на состав, структурные и фотолюминесцентные свойства эпитаксиальных слоев, выращенных на GaAs(100)
Физика и техника полупроводников, 52:1 (2018), 118–124
-
Состав нанокомпозитов из тонких слоев олова на пористом кремнии, сформированных методом магнетронного распыления
Физика твердого тела, 59:4 (2017), 773–782
-
Экспериментальные исследования влияния эффектов атомного упорядочения в эпитаксиальных твердых растворах Ga$_{x}$In$_{1-x}$P на их оптические свойства
Физика и техника полупроводников, 51:9 (2017), 1160–1167
-
Экспериментальные исследования влияния эффектов атомного упорядочения в эпитаксиальных твердых растворах Ga$_{x}$In$_{1-x}$P на их структурные и морфологические свойства
Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017), 1131–1137
-
Исследование особенностей осаждения органического красителя Родамин Б на поверхность пористого кремния с различным размером пор
Физика и техника полупроводников, 51:2 (2017), 193–197
-
Эпитаксиальные твердые растворы Al$_{x}$Ga$_{1-x}$As : Mg с различным типом проводимости
Физика и техника полупроводников, 51:1 (2017), 124–132
-
Особенности роста и структурно-спектроскопические исследования нанопрофилированных пленок AlN, выращенных на разориентированных подложках GaAs
Физика и техника полупроводников, 50:9 (2016), 1283–1294
-
Особенности изменения с течением времени оптических характеристик нано-, мезо- и макропористого кремния
ЖТФ, 85:7 (2015), 151–155
-
Исследование процессов деградации оптических свойств мезо- и макропористого кремния при воздействии имитатором солнечного излучения
Физика и техника полупроводников, 49:11 (2015), 1540–1545
-
Гетероструктуры Al$_x$Ga$_{1-x}$As/GaAs(100) с аномально высокой подвижностью носителей заряда
Физика и техника полупроводников, 49:8 (2015), 1043–1049
-
Исследования наноразмерных пленок Al$_2$O$_3$, полученных на пористом кремнии методом ионно-плазменного распыления
Физика и техника полупроводников, 49:7 (2015), 936–941
-
Оптические характеристики различных структур пористого кремния
ЖТФ, 84:2 (2014), 70–75
-
Структура и оптические свойства тонких пленок Al$_2$O$_3$, полученных методом реактивного ионно-плазменного распыления на подложках GaAs(100)
Физика и техника полупроводников, 48:11 (2014), 1564–1569
-
Структурные и оптические свойства высоколегированных твердых растворов Al$_x$Ga$_{1-x}$As$_{1-y}$P$_y$ : Mg, полученных методом МОС-гидридной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 48:8 (2014), 1123–1131
-
Особенности формирования золь–гель методом композитов 3$d$-металл/пористый кремний и их оптические свойства
Физика и техника полупроводников, 48:4 (2014), 570–575
-
Структура и оптические свойства гетероструктур на основе твердых растворов (Al$_x$Ga$_{1-x}$As$_{1-y}$P$_y$)$_{1-z}$Si$_z$, полученных методом MOCVD
Физика и техника полупроводников, 48:1 (2014), 23–31
-
Особенности структурных и оптических свойств пористого кремния, полученного в $p^+$-эпитаксиальном слое на $n$-Si(111)
ЖТФ, 83:3 (2013), 96–100
-
Оптические свойства пористого кремния, обработанного в тетраэтилортосиликате
ЖТФ, 83:2 (2013), 136–140
-
Влияние естественного старения на фотолюминесценцию пористого кремния
ЖТФ, 82:2 (2012), 150–152
-
Исследования морфологических особенностей роста и оптических характеристик многослойных образцов пористого кремния, выращенных на подложках $n$-типа с эпитаксиально нанесенным $p^+$-слоем
Физика и техника полупроводников, 46:8 (2012), 1101–1107
-
Структурные и спектральные особенности МОС-гидридных твердых растворов Al$_x$Ga$_y$In$_{1-x-y}$As$_z$P$_{1-z}$/ GaAs(100)
Физика и техника полупроводников, 46:6 (2012), 739–750
-
Особенности фотоэмиссии органических красителей в матрице пористого кремния
Письма в ЖТФ, 38:23 (2012), 77–82
-
Исследование электронного строения и химического состава пористого кремния, полученного на подложках $n$- и $p$-типа, методами XANES и ИК спектроскопии
Физика и техника полупроводников, 45:9 (2011), 1229–1234
-
Влияние естественного старения на фотолюминесценцию пористого кремния
Письма в ЖТФ, 37:17 (2011), 1–8
-
Рентгеноструктурные исследования гетероструктур на основе твердых растворов Al$_x$Ga$_{1-x}$As$_y$P$_{1-y}$ : Si
Физика твердого тела, 55:10 (2013), 2046–2049
© , 2026