|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Влияние слоя нанопористого кремния на практическую реализацию и особенности эпитаксиального роста слоев GaN на темплейтах SiC/$por$-Si/$c$-Si
Физика и техника полупроводников, 54:5 (2020), 491–503
-
Оптические свойства гибридных гетероструктур GaN/SiC/$por$-Si/Si(111)
Физика и техника полупроводников, 54:4 (2020), 346–354
-
Структурные и морфологичеcкие свойства гибридных гетероструктур на основе GaN, выращенного на “податливой” подложке por-Si(111)
Физика и техника полупроводников, 53:8 (2019), 1141–1151
-
Исследование влияния переходного слоя нанопористого кремния на атомное и электронное строение, а также оптические свойства гетероструктур A$^{\mathrm{III}}$N/por-Si, выращенных методом плазменно-активированной молекулярно-пучковой эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 53:7 (2019), 1010–1016
-
Влияние буферного слоя por-Si на оптические свойства эпитаксиальных гетероструктур In$_{x}$Ga$_{1-x}$N/Si(111) с наноколончатой морфологией пленки
Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019), 70–76
-
Электронные и оптические свойства гибридных гетероструктур GaN/por-Si(111)
Квантовая электроника, 49:6 (2019), 545–551
-
Влияние буферного слоя $por$-Si на структуру и морфологию эпитаксиальных гетероструктур In$_{x}$Ga$_{1-x}$N/Si(111)
Физика и техника полупроводников, 52:13 (2018), 1553–1562
-
Влияние разориентации подложки и ее предварительного травления на структурные и оптические свойства интегрированных гетероструктур GaAs/Si(100), полученных методом газофазной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 52:8 (2018), 881–890
© , 2026