|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Изменение структуры и люминесцентных свойств пленок ZnSe и ZnCdSe при облучении электронным пучком
Физика твердого тела, 64:2 (2022), 228–236
-
Стимулированное излучение на длине волны $2.86$ мкм из метаморфных In(Sb,As)/In(Ga,Al)As/GaAs квантовых ям в условиях оптической накачки
Письма в ЖЭТФ, 110:5 (2019), 297–302
-
Влияние сильнонапряженных вставок GaAs и InAs в буферном слое InAlAs на структурные и оптические свойства метаморфных квантово-размерных гетероструктур InAs(Sb)/InGaAs/InAlAs/GaAs
Письма в ЖЭТФ, 109:6 (2019), 381–386
-
Оптимизация структурных свойств и морфологии поверхности метаморфного буферного слоя In$_{x}$Al$_{1-x}$As с корневым профилем изменения состава ($x$ = 0.05–0.83), выращиваемого методом молекулярно-пучковой эпитаксии на GaAs (001)
Физика и техника полупроводников, 52:1 (2018), 127–132
-
Исследование параметров наноразмерного слоя в наногетероструктурах на основе полупроводниковых соединений A$^{\mathrm{II}}$B$^{\mathrm{VI}}$
Физика и техника полупроводников, 51:1 (2017), 56–62
-
Генерация и релаксация напряжений в гетероструктуре (Al, Ga)N/6$H$-SiC при росте методом плазменно-активированной молекулярно-пучковой эпитаксии
Письма в ЖТФ, 43:9 (2017), 67–74
-
Исследование параметров наноразмерного слоя в наногетероструктурах на основе полупроводниковых соединений A$^{\mathrm{II}}$B$^{\mathrm{VI}}$
Физика и техника полупроводников, 50:12 (2016), 1726
-
Рост нанокластеров кремния в термическом диоксиде кремния при отжиге в атмосфере азота
Физика и техника полупроводников, 50:6 (2016), 807–810
-
Развитие модели спинодального распада на примере гетероструктуры на основе политипов карбида кремния
Письма в ЖТФ, 42:23 (2016), 66–71
-
Наноструктурированные магнитные пленки оксидов железа, полученные методом лазерного электродиспергирования
Письма в ЖТФ, 42:19 (2016), 62–69
-
Комплексное использование дифракционных методов при профилировании по глубине параметра кристаллической решетки и состава градиентных слоев InGaAs/GaAs
Письма в ЖТФ, 42:9 (2016), 40–48
-
Молекулярно-пучковая эпитаксия короткопериодных сверхрешеток ZnSSe/CdSe для применения в многопереходных солнечных элементах A$^{\mathrm{III}}$B$^{\mathrm{V}}$/A$^{\mathrm{II}}$B$^{\mathrm{VI}}$
Физика и техника полупроводников, 49:8 (2015), 1024–1030
-
Исследование структуры пленочных трехмерно-упорядоченных макропористых нанокомпозитов GaN–ZnS : Mn
Физика и техника полупроводников, 49:5 (2015), 672–676
-
Пластины кристаллического GaN большой площади
Письма в ЖТФ, 41:5 (2015), 84–90
-
Молекулярно-пучковая эпитаксия гибридных AlGaAs/ Zn(Mn)Se наноструктур с квантовыми точками InAs/AlGaAs вблизи гетеровалентного интерфейса
Физика и техника полупроводников, 48:1 (2014), 36–43
-
Анализ дефектов упаковки в нитриде галлия с использованием преобразования Фурье высокоразрешающих изображений
Письма в ЖТФ, 40:24 (2014), 60–68
-
Структура наноалмазов, полученных методом лазерного синтеза
Физика твердого тела, 55:8 (2013), 1633–1639
-
Комплексная диагностика многослойных периодических систем с наноразмерными слоями на примере структур Mo/Si
Физика твердого тела, 55:3 (2013), 591–601
-
Сравнительное исследование слоев 3C-SiC, выращенных на подложке 6H-SiC, методом сублимации
Физика и техника полупроводников, 47:9 (2013), 1279–1282
-
Структура и транспортные свойства наноуглеродных пленок, полученных сублимацией на поверхности на 6H-SiC
Физика и техника полупроводников, 47:2 (2013), 267–272
-
Получение структур из аморфных металлических наночастиц диспергированием металлических капель, непрерывно заряжаемых в потоке электронов
ЖТФ, 82:6 (2012), 135–141
-
Квантово-размерный эффект Штарка и локализация носителей в квантовых ямах Al$_{0.3}$Ga$_{0.7}$N/Al$_{0.4}$Ga$_{0.6}$N c различной морфологией
Физика и техника полупроводников, 46:8 (2012), 1022–1026
-
Коллективные эффекты в системе структурных дефектов нитрида галлия в условиях гомоэпитаксии на пористой подложке
Письма в ЖТФ, 38:9 (2012), 31–36
-
Исследование процесса формирования наноразмерных кластеров кремния в диоксиде кремния при облучении электронным пучком
Физика твердого тела, 53:7 (2011), 1399–1405
-
Характеристики магнетизма в нанопористом углероде с кластерами палладия
Физика твердого тела, 53:5 (2011), 956–963
-
Особенности молекулярно-пучковой эпитаксии и структурные свойства гетероструктур на основе AlInSb
Физика и техника полупроводников, 45:10 (2011), 1379–1385
-
Фотоэлектрические свойства пористых гетероструктур GaN/SiC
Физика и техника полупроводников, 45:10 (2011), 1369–1372
-
Электрохимическое вольт-емкостное профилирование концентрации свободных носителей заряда в HEMT-гетероструктурах на основе соединений InGaAs/AlGaAs/GaAs
Физика и техника полупроводников, 45:6 (2011), 829–835
-
Классификация линий дислокационной люминесценции в кремнии
Физика твердого тела, 34:5 (1992), 1513–1521
-
Механизм микродефектов при выращивании бездислокационных монокристаллов кремния
Физика твердого тела, 33:11 (1991), 3229–3234
-
Коэситная природа стержнеобразных дефектов в выращенном по Чохральскому и отожженном кремнии
Физика твердого тела, 32:12 (1990), 3659–3667
-
Поля напряжений и дифракционный контраст стержнеобразных дефектов в кремнии
Физика твердого тела, 30:7 (1988), 2040–2045
-
Образование структурных дефектов в кремнии и влияние на этот процесс
углерода и марганца
ЖТФ, 58:11 (1988), 2272–2274
-
Исследование микродефектов $D$-типа в монокристаллах кремния
Физика твердого тела, 29:9 (1987), 2623–2628
-
Исследование природы микродефектов в бездислокационных монокристаллах кремния
Физика твердого тела, 28:6 (1986), 1829–1833
-
Диффузное рассеяние от стержнеобразных дефектов в кристаллах кремния с кислородом
Физика твердого тела, 27:3 (1985), 673–677
-
Измерение локальной толщины кристаллов и получение профилей
распределения дефектов по глубине и ионно-легированных слоях кремния
методом электронной микроскопии
ЖТФ, 54:7 (1984), 1330–1333
-
Спонтанное и стимулированное излучение в среднем ультрафиолетовом диапазоне квантово-размерных гетероструктур на основе AlGaN-соединений, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии на подложках $c$-сапфира
Физика твердого тела, 55:10 (2013), 2058–2066
© , 2026