Бондаренко Ирина Евгеньевна

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Реконструкция глубинной структуры микротрещин в кремнии с помощью метода томографии наведенного тока в растровом электронном микроскопе
   
   Физика и техника полупроводников, 26:12 (1992),  2076–2082
2. Электронно-микроскопическое исследование особенностей движения дислокаций в сильнолегированных кристаллах кремния
   
   Докл. АН СССР, 229:5 (1976),  1087–1090