|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Параметры стимулированного излучения в Al$_{0.65}$Ga$_{0.35}$N : Si/AlN/Al$_2$O$_3$-структуре с планарной геометрией
Оптика и спектроскопия, 132:9 (2024), 911–917
-
Химическая кинетика процесса нитридизации поверхности Si(111) при температурах ниже структурного фазового перехода (7$\times$7)$\to$(1$\times$1)
Физика и техника полупроводников, 58:7 (2024), 349–357
-
Оптическое усиление в сильнолегированных Al$_{0.65}$Ga$_{0.35}$N:Si-структурах при непрерывной накачке
Письма в ЖТФ, 50:21 (2024), 39–42
-
Механизмы оптического усиления в сильно легированных Al$_x$Ga$_{1-x}$N:Si-структурах ($x$ = 0.56–1)
Физика и техника полупроводников, 57:9 (2023), 731–737
-
Стимулированная эмиссия в сильно легированных Al$_{0.68}$Ga$_{0.32}$N : Si-структурах с поперечной оптической накачкой при комнатной температуре
Физика и техника полупроводников, 56:12 (2022), 1125–1131
-
Определение типов оптических переходов и концентраций доноров и акцепторов в GaN по зависимости интенсивности фотолюминесценции от мощности возбуждения
Физика и техника полупроводников, 56:8 (2022), 802–807
-
Определение толщины зародышевого слоя AlN, сформированного на поверхности Al$_2$O$_3$(0001) в процессе нитридизации, методами РФЭС и ИК-спектроскопии
Физика и техника полупроводников, 56:8 (2022), 734–741
-
Трансформация N-полярных инверсных доменов из буферных слоев AlN в процессе роста слоев AlGaN
Физика и техника полупроводников, 56:7 (2022), 677–684
-
Формирование квантовых точек GaN при повышении температуры в потоке аммиака
Физика и техника полупроводников, 56:7 (2022), 667–671
-
Особенности оптического усиления в сильнолегированных Al$_{x}$Ga$_{1-x}$N:Si-структурах
Письма в ЖТФ, 47:14 (2021), 39–42
-
Формирование нанокристаллов GaN на поверхности графеноподобных $g$-AlN и $g$-Si$_{3}$N$_{3}$
Физика твердого тела, 61:12 (2019), 2327–2332
-
Поверхностные поляритоны в пленках нитридов алюминия и галлия, легированных кремнием
Оптика и спектроскопия, 127:1 (2019), 42–45
-
Оптическое усиление в сильнолегированных структурах Al$_{x}$Ga$_{1-x}$N : Si
Письма в ЖТФ, 45:18 (2019), 48–51
-
Нелегированный высокоомный буферный слой GaN для HEMT AlGaN/GaN
Письма в ЖТФ, 45:15 (2019), 21–24
-
Формирование графеноподобного слоя SiN на поверхности (111)Si
Физика и техника полупроводников, 52:12 (2018), 1407–1413
-
Влияние степени нитридизации сапфира и обогащения алюминием зародышевого слоя на структурные свойства слоев AlN
Физика и техника полупроводников, 52:6 (2018), 643–650
-
Изменение характера биаксиальных напряжений при возрастании $x$ от 0 до 0.7 в слоях Al$_{x}$Ga$_{1-x}$N:Si, полученных методом аммиачной молекулярно-лучевой эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 52:2 (2018), 233–237
-
Усиленная люминесценция сильнолегированных AlxGa1-xN-структур при оптическом возбуждении
Квантовая электроника, 48:3 (2018), 215–221
-
AlN/GaN-гетероструктуры для нормально закрытых транзисторов
Физика и техника полупроводников, 51:3 (2017), 395–402
-
Усиление излучения в легированных AlGaN-структурах при оптической накачке
Письма в ЖТФ, 43:1 (2017), 5–13
-
Нормально закрытые транзисторы на основе in situ пассивированных гетероструктур AlN/GaN
Письма в ЖТФ, 42:14 (2016), 72–79
-
Синтез AlGaN/GaN-гетероструктур для ультрафиолетовых фотоприемников методом молекулярно-лучевой эпитаксии
ЖТФ, 85:4 (2015), 67–73
-
Увеличение диффузионной длины неосновных носителей заряда в твердых растворах Al$_x$Ga$_{1-x}$N ($x$ = 0–0.1), полученных методом аммиачной молекулярно-лучевой эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 49:10 (2015), 1329–1334
-
Нитридизация нереконструированной и реконструированной $(\sqrt{31}\times\sqrt{31})R\pm9^\circ$ поверхности (0001) сапфира в потоке аммиака
Физика и техника полупроводников, 49:7 (2015), 925–931
-
Использование маски из хрома для плазмохимического травления слоев Al$_x$Ga$_{1-x}$N
ЖТФ, 84:9 (2014), 96–99
-
Уменьшение энергии связи доноров в слоях GaN : Si при сильном легировании
Физика и техника полупроводников, 48:9 (2014), 1164–1168
-
Рассеяние электронов в гетероструктурах AlGaN/GaN с двумерным электронным газом
Физика и техника полупроводников, 47:1 (2013), 36–47
© , 2026