|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Особенности диэлектрических спектров пленок йодида серебра, легированных медью
Физика твердого тела, 67:12 (2025), 2399–2402
-
Изменение при легировании хромом структуры диэлектрических спектров пленок диоксида ванадия
Физика твердого тела, 67:4 (2025), 737–746
-
Роль легирования ионами серебра в трансформации механизма фазового перехода в пленках диоксида ванадия
Физика твердого тела, 67:2 (2025), 391–398
-
Широкополосная диэлектрическая спектроскопия раствора альбумина человека при физиологических температурах
ЖТФ, 95:6 (2025), 1224–1233
-
Диэлектрическая спектроскопия пленок AgI, легированных Cu
Физика твердого тела, 66:12 (2024), 2092–2094
-
Диэлектрическая спектроскопия кристаллов легированных силленитов
Физика твердого тела, 66:8 (2024), 1330–1337
-
Особенности фазового перехода в тонких пленках суперионного полупроводника AgI
Физика и техника полупроводников, 57:8 (2023), 624–627
-
Нанокомпозиты на основе термопластичных ароматических полиимидов с наночастицами диоксида церия: диэлектрическая спектроскопия
Физика твердого тела, 64:8 (2022), 1112–1121
-
Применение метода диэлектрической спектроскопии для исследования свойств сыворотки крови мышей со злокачественным асцитом
ЖТФ, 92:1 (2022), 147–151
-
Диэлектрические измерения нанокристаллических пленок VO$_2$ : Fe
Оптика и спектроскопия, 130:10 (2022), 1491–1498
-
Диэлектрическое исследование сыворотки крови больных онкогематологическими заболеваниями
Оптика и спектроскопия, 130:6 (2022), 918–923
-
Поляризационные процессы в тонких слоях стеклообразной гибридной системы Ge$_{28.5}$Pb$_{14.0}$Fe$_{1.0}$S$_{56.5}$
Физика и техника полупроводников, 56:6 (2022), 559–565
-
Эллипсометрия нанокристаллических пленок VO$_2$, VO$_2$ : Mg, VO$_2$ : Ge
Физика твердого тела, 63:12 (2021), 2210–2216
-
Импедансметрия нанокристаллитов Ag$_{2}$S, внедренных в нанопористые стекла
Физика твердого тела, 63:12 (2021), 2185–2191
-
Исследование распределения релаксаторов в тонких слоях аморфного MoTe$_{2}$
Физика твердого тела, 63:11 (2021), 1852–1855
-
Особенности процессов переноса заряда в нанокомпозитах на основе полифениленоксида с фуллереном и эндофуллереном
Физика твердого тела, 63:10 (2021), 1706–1710
-
Термоимпендансметрия нанокристаллитов V$_{2}$O$_{5}$, локализованных в каналах нанопористого стекла
Физика твердого тела, 63:9 (2021), 1429–1436
-
Поляризационные процессы в тонких слоях аморфного MoS$_{2}$, полученных методом высокочастотного магнетронного распыления
Физика и техника полупроводников, 54:5 (2020), 461–465
-
Диэлектрическая спектроскопия как метод исследования тонких пленок диоксида ванадия
ЖТФ, 89:12 (2019), 1885–1890
-
Перенос заряда в планарных структурах на основе халькогенидной системы (As$_{2}$Se$_{3}$)$_{100-x}$Bi$_{x}$
Физика и техника полупроводников, 53:12 (2019), 1664–1668
-
Диэлектрическая спектроскопия пленок VO$_{2}$:Ge
Письма в ЖТФ, 45:11 (2019), 44–46
-
Механизм оптической перезарядки магнитных центров в BSO:Fe
Физика твердого тела, 60:9 (2018), 1785–1792
-
Низкочастотная диэлектрическая релаксация в стеклообразной системе Ge$_{28.5}$Pb$_{15}$S$_{56.5}$ с примесью железа
Междунар. науч.-исслед. журн., 2018, № 3(69), 15–18
-
Диэлектрическая спектроскопия сильно коррелированных электронных состояний диоксида ванадия
ЖТФ, 88:6 (2018), 877–882
-
Низкочастотная диэлектрическая релаксация в стеклообразной системе Ge$_{28.5}$Рb$_{15}$S$_{56.5}$ с примесью железа
Физика и техника полупроводников, 52:9 (2018), 1038–1040
-
Диэлектрическая релаксация в тонких слоях стеклообразной системы Ge$_{28.5}$Рb$_{15}$S$_{56.5}$
Физика и техника полупроводников, 52:8 (2018), 912–915
-
Недебаевский диэлектрический отклик в монолитных слоях стеарата серебра
Физика твердого тела, 59:2 (2017), 255–259
-
Токовая спектроскопия дефектных состояний в стеклообразной системе As-Se
Междунар. науч.-исслед. журн., 2017, № 5-3(59), 147–153
-
Низкочастотная диэлектрическая релаксация в слоях стеарата серебра
Междунар. науч.-исслед. журн., 2016, № 5-5(47), 16–20
-
Релаксорные свойства монокристаллов твердых растворов Na$_{1/2}$Bi$_{1/2}$TiO$_3$–KTaO$_3$
Письма в ЖТФ, 40:8 (2014), 50–55
-
Термоактивационная и диэлектрическая спектроскопия пленок хитозана
Физика твердого тела, 55:1 (2013), 193–196
-
Диэлектрическое исследование композиционных материалов с наполнителем из сегнетоэлектрической керамики
Междунар. науч.-исслед. журн., 2013, № 10(17), 12–14
-
Инфранизкочастотный фотодиэлектрический отклик аморфных слоев As$_2$Se$_3$
Физика и техника полупроводников, 47:7 (2013), 944–947
-
Исследование структуры аморфных слоев $a$-As$_2$Se$_3\langle$Bi$\rangle_x$ методом диэлектрической спектроскопии
Физика и техника полупроводников, 47:1 (2013), 92–96
-
Электронно-лучевая модификация параметров фазового перехода изолятор-металл в пленках диоксида ванадия
Письма в ЖТФ, 39:15 (2013), 78–85
-
Особенности фотодиэлектрического эффекта в слоях $\alpha$-As$_2$Se$_3$
Письма в ЖТФ, 39:2 (2013), 1–6
-
Влияние легирующей добавки на диэлектрические свойства модифицированного As$_2$Se$_3$
Физика твердого тела, 53:3 (2011), 430–432
-
Исследование структуры аморфной полупроводниковой системы As–Se релаксационными методами
Физика и техника полупроводников, 45:12 (2011), 1646–1651
-
Исследование диэлектрических процессов в аморфных пленках (As$_2$Se$_3$)$_{1-x}$Bi$_x$
Физика и техника полупроводников, 45:5 (2011), 622–624
-
Широкополосный диэлектрический отклик аморфных слоев As$_2$Se$_3$, приготовленных разными методами
Письма в ЖТФ, 37:18 (2011), 1–6
-
Особенности механизма переноса заряда в структурах на основе тонких слоев триселенида мышьяка, модифицированных висмутом
Физика и техника полупроводников, 44:8 (2010), 1038–1041
-
Температурная зависимость диэлектрических параметров тонких слоев As$_2$Se$_3$ с большим содержанием висмута
Письма в ЖТФ, 36:20 (2010), 80–86
-
Дисперсия диэлектрических параметров в модифицированных слоях триселенида мышьяка
Письма в ЖТФ, 36:17 (2010), 9–15
© , 2026