|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Ансамбли спектрально-пространственных сверточных нейросетевых моделей для задачи классификации типов почв на гиперспектральных изображениях
Компьютерная оптика, 47:5 (2023), 795–805
-
Agricultural plant hyperspectral imaging dataset
Компьютерная оптика, 47:3 (2023), 442–450
-
Нейросетевая классификация гиперспектральных изображений растительности с формированием обучающей выборки на основе адаптивного вегетационного индекса
Компьютерная оптика, 45:6 (2021), 887–896
-
Формирование векторного пучка с помощью конической преломляющей поверхности
Компьютерная оптика, 45:6 (2021), 828–838
-
Нейросетевая реконструкция видеопотока в дифракционных оптических системах массового производства
Компьютерная оптика, 45:1 (2021), 130–141
-
Одно- и двулучевое оптическое формирование рельефных дифракционных микроструктур в пленках карбазолсодержащего азополимера
Оптика и спектроскопия, 129:4 (2021), 400–405
-
Передача через атмосферу высокоскоростного сигнала формата 1000BASE-SX/LX вихревыми пучками ближнего ИК-диапазона при помощи модифицированных SFP-трансиверов DEM-310GT
Компьютерная оптика, 44:4 (2020), 578–581
-
Анализ характеристик параксиальных векторных Гауссовых пучков, влияющих на формирование микроструктур в азополимере
Компьютерная оптика, 43:5 (2019), 780–788
-
Распространение пучков Бесселя и суперпозиций вихревых пучков в атмосфере
Компьютерная оптика, 43:3 (2019), 376–384
-
Возможности передачи и детектирования модулированных пучков с длиной волны 1530 нм в условиях случайных флуктуаций среды распространения
Компьютерная оптика, 43:3 (2019), 368–375
-
Исследование формирования микроструктур на поверхности карбазолосодержащих азополимеров в зависимости от плотности мощности освещающего пучка
Компьютерная оптика, 42:5 (2018), 779–785
-
Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии
Компьютерная оптика, 40:6 (2016), 837–843
-
Атомно-молекулярная модель граничного трения в микротрибоконтактах поверхностей полупроводниковых и диэлектрических материалов
ЖТФ, 85:6 (2015), 137–142
© , 2026