|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Cекционные методы рентгеновской дифракционной топографии (обзор)
ЖТФ, 92:10 (2022), 1475–1496
-
Формирование изображения краевой дислокации при аномальном прохождении рентгеновского излучения
Физика твердого тела, 61:8 (2019), 1499–1504
-
Новый высокочувствительный рентгеновский метод определения локальных деформаций поверхности кристаллов с помощью “изгибных интерференционных полос”
Письма в ЖТФ, 42:18 (2016), 55–62
-
Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии)
УФН, 185:9 (2015), 897–915
-
Новый подход в понимании механизмов дифракционного изображения дислокаций в рентгеновской топографии
Письма в ЖТФ, 38:21 (2012), 70–76
-
Дифракция рентгеновского излучения на однородно изогнутом кристалле в геометрии на отражение
Физика твердого тела, 53:1 (2011), 35–40
-
Межветвевое рассеяние рентгеновского волнового поля в сильно искаженной области упругого поля дислокации
Физика твердого тела, 52:2 (2010), 241–247
-
Быстрые ионизационные волны в полупроводнике, связанные
с переизлучением
Физика и техника полупроводников, 20:7 (1986), 1335–1337
-
Полупроводниковые мощные субнаносекундные коммутаторы с большим временем удержания в проводящем состоянии
Письма в ЖТФ, 11:15 (1985), 901–904
© , 2026